[发明专利]一种用于测量玻璃不同温度下体积与表面电阻率的测量仪在审

专利信息
申请号: 202011122032.0 申请日: 2020-10-20
公开(公告)号: CN112230065A 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 舒众众;张晓东;刘伟超;张叶;杨淑妍 申请(专利权)人: 蚌埠中光电科技有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) 34113 代理人: 陈俊
地址: 233000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 玻璃 不同 温度 体积 表面 电阻率 测量仪
【说明书】:

发明公开一种用于测量玻璃不同温度下体积与表面电阻率的测量仪,包括测量控制箱与加热箱;加热箱内设有水平的加热板,加热板底面设有电加热丝;加热板顶面同心同轴摆放有外电极与内电极,外电极为环形柱体,内电极为柱体,内电极位于外电极内部;待测量玻璃位于加热板顶面与外电极之间;测量控制箱集成有体积电阻率测定仪、表面电阻率测定仪与温度控制器器;所述外电极与内电极分别通过引线连接体积电阻率测定仪以及表面电阻率测定仪的对应接口;温度控制器的输出接口连接电加热丝;该测量仪在不同温度下无需重新组装,可方便地对玻璃在不同温度下的体积电阻率与表面电阻率进行测量。

技术领域

本发明涉及玻璃基板性能检测设备技术领域,具体是一种用于测量玻璃不同温度下体积与表面电阻率的测量仪。

背景技术

随着液晶显示器件行业的飞速发展,玻璃基板作为液晶显示器件不可或缺的基本部件,需求量与日俱增,同时性能要求也越来越高,这就要求玻璃基板制造企业,在玻璃生产中不仅要保证产量更要满足客户的工艺要求。因此玻璃基板性能参数变得尤为重要,特别在液晶基板制作影响参数电阻率的检测。

在现有设备中往往只能检测常温下的玻璃基板体积电阻率和表面电阻率,如果需要检测高温下的体积电阻率和表面电阻率,则需要将设备拆卸并放进高温炉内,再重新组装,进行高温度下体积和表面电阻率的检测,这种设备和操作无形之中给检测带来时间上的浪费,同时也不能保证重复性和准确性的要求,以至于造成提供的检测结果很难具有说服力,进而影响信誉。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于测量玻璃不同温度下体积与表面电阻率的测量仪,该测量仪在不同温度下无需重新组装,可方便地对玻璃在不同温度下的体积电阻率与表面电阻率进行测量。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:

一种用于测量玻璃不同温度下体积与表面电阻率的测量仪,包括测量控制箱与加热箱;

所述加热箱内设有水平的加热板,加热板底面设有电加热丝;加热板顶面同心同轴摆放有外电极与内电极,外电极为环形柱体,内电极为柱体,内电极位于外电极内部;待测量玻璃位于加热板顶面与外电极之间;

所述测量控制箱集成有体积电阻率测定仪、表面电阻率测定仪与温度控制器器;所述外电极与内电极分别通过引线连接体积电阻率测定仪以及表面电阻率测定仪的对应接口;

所述温度控制器的输出接口连接电加热丝。

进一步的,所述加热箱为带有箱盖的夹层箱体,夹层箱体的夹层内设有保温加热丝,保温加热丝与温度控制器的输出接口相连。

本发明的有益效果是,将待测试玻璃置于加热箱内,通过电加热丝将玻璃加热至不同的温度,再通过集成的体积电阻率测定仪以及表面电阻率测定仪对玻璃的体积电阻率以及表面电阻率进行测量,测量过程简单准确,无需重新拆装设备,本身即具备加热和测量功能,同时完成两种参数的测量,结构简单、操作方便、准确性高。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明:

图1是本发明的结构示意图;

图2是本发明加热箱的示意图;

图3是本发明外电极与内电极的示意图;

图4是本发明的电气原理框图。

具体实施方式

结合图1~4所示,本发明提供一种用于测量玻璃不同温度下体积与表面电阻率的测量仪,包括加热箱1与测量控制箱2;

加热箱1内设有水平的加热板3,加热板3底面设有电加热丝4;加热板顶面同心同轴摆放有外电极5与内电极6,外电极5为环形柱体,内电极6为柱体,内电极位于外电极内部;待测量玻璃7水平摆放于加热板顶面与外电极之间。

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