[发明专利]可双面入射的探测器、探测器阵列、成像系统及成像方法

说明书

本发明公开了一种可双面入射的探测器、探测器阵列、成像系统及成像方法，探测器包括上盖板、下盖板以及设置在上盖板与下盖板之间的成像部、支撑框架和电路板，所述支撑框架用于支撑所述成像部，所述电路板与所述成像部电连接，所述成像部用于将射线信号转换为电荷信号，所述电路板将电荷信号转化为数字信号；所述上盖板、支撑框架、下盖板均由能够使射线穿透的材质制成；所述电路板设置在所述探测器内部边缘区域，所述电路板不与所述成像部的主成像区域相对设置。本发明的探测器可以正面或背面入射成像，还提供了实现探测器阵列中多个探测器协同工作、无缝拼接成像的技术方案。

技术领域

本发明涉及探测器成像领域，特别涉及一种可双面入射的探测器、探测器阵列、成像系统及成像方法。

背景技术

数字平板探测器是数字化X射线成像系统中的关键部件，在数字化X射线成像系统中，平板探测器将携带信息的X射线转化成可被检测并表达的数字信号。

当前市场上的数字化X射线平板探测器都是独立工作的个体，探测器与探测器之间除了进行数据传输和共享，没有其它协同工作的功能。所谓协同工作，是指在不改变原先接口和同步机制的前提下，若干台探测器拼接后联合工作，在应用端看起来就好像是在操作一块成像面积更大的探测器。

另外，市面上的数字平板探测器，也没有能够同时从上下层两个方向接收X射线射入成像的功能。传统的数字平板探测器的堆叠方式是印刷电路板(Printed CircuitBoard，简称PCB)和电源模块放置在成像部下方。这样就只允许X射线从一个方向上射入成像。

发明内容

为了克服现有技术存在的不足，本发明提供一种可双面入射的探测器、探测器阵列、成像系统及成像方法，突破平板探测器只允许X射线从一个方向上射入成像的限制，可以根据应用场景灵活选择合适的平板探测器拼接方式，并使双能谱应用成为可能。具体技术方案如下：

一方面，本发明提供了一种可双面入射成像的平板探测器，所述平板探测器包括上盖板、下盖板以及设置在上盖板与下盖板之间的成像部、支撑框架和电路板，所述支撑框架用于支撑所述成像部，所述电路板与所述成像部电连接，所述成像部用于将射线信号转换为电荷信号，所述电路板将电荷信号转化为数字信号；所述上盖板、支撑框架、下盖板均由能够使射线穿透的材质制成；

所述电路板设置在所述探测器内部边缘区域，所述电路板不与所述成像部的主成像区域相对设置。

进一步地，所述平板探测器的斜侧面上设有用于与相邻的平板探测器进行通信的触点和/或传感器。

进一步地，在X射线由上向下入射或者由下向上入射探测器的条件下，所述成像部均能够将X光信号转化为电信号。

进一步地，所述平板探测器的上盖板和下盖板均为N边形，所述平板探测器还包括N个侧面。

另一方面，本发明提供了一种探测器阵列，包括至少两个如上所述的可双面入射成像的平板探测器，每个平板探测器具有至少一个自上盖板向下盖板向内倾斜的斜侧面，相邻的两个平板探测器反向拼接使各自的成像部在投影上具有重叠区域。

另一方面，本发明提供了一种双能谱探测器，包括两个如上所述的可双面入射成像的平板探测器，两个平板探测器上下设置。

另一方面，本发明提供了一种成像系统，包括射线源、成像显示单元及如上所述的可双面入射成像的平板探测器，所述射线源发出的射线射向所述平板探测器的正面或反面，所述成像显示单元与所述平板探测器的电路板电连接。

另一方面，本发明提供了一种成像系统，包括射线源、成像显示单元及如上所述的探测器阵列，所述射线源设置在反向拼接的多个平板探测器的一侧，所述成像显示单元与多个平板探测器的电路板电连接，所述探测器阵列的每个平板探测器均遵循一个时序进行同步工作。

再一方面，本发明提供了一种基于如上所述的探测器阵列的成像方法，包括以下步骤：