[发明专利]一种电子设备的天线测试方法、装置及电子设备在审
申请号: | 202011129902.7 | 申请日: | 2020-10-21 |
公开(公告)号: | CN112285439A | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 陆康;吴枝强;张银抢 | 申请(专利权)人: | 合肥联宝信息技术有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 韩岳松 |
地址: | 230601 安徽省合肥市经*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子设备 天线 测试 方法 装置 | ||
1.一种电子设备的天线测试方法,其特征在于,包括:
根据触发指令,生成第一测试信号;
通过所述电子设备的第一天线组件将所述第一测试信号发出;
通过所述电子设备的第二天线组件接收所述第一测试信号,形成相对应的第二测试信号;
比对所述第一测试信号的第一特征信息与所述第二测试信号的第二特征信息,形成相应的比对结果;
在所述比对结果符合预设规定的情况下,确定所述第一天线组件和/或所述第二天线组件是否符合预设装配要求。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述根据触发指令,生成第一测试信号后,所述方法还包括:
根据所述电子设备的通信特征,将所述第一测试信号的频率和/或强度进行调整,以使调整后的所述第一测试信号的特征参数符合第一信号范围。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据触发指令,生成第一测试信号,包括:通过所述电子设备中的处理模块经由第一路径发出所述第一测试信号;
相应的,所述通过所述电子设备的第二天线组件接收所述第一测试信号,形成相对应的第二测试信号,包括:
将通过所述第二天线组件接收到的所述第一测试信号的信号强度和/或信号频率进行调整,形成所述第二测试信号,并通过所述处理模块经由第二路径接收调整后的所述第二测试信号。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述比对所述第一测试信号的第一特征信息与所述第二测试信号的第二特征信息,形成相应的比对结果,包括:
基于对所述第一测试信号进行调整的第一调整信息,以及对所述第二测试信号进行调整的第二调整信息,比对所述第一特征信息中的第一信号强度与所述第二特征信息中的第二信号强度,形成相应的对比结果,其中,所述第一信号强度为所述第一测试信号从所述处理模块发出时的信号强度,第二信号强度为所述第二测试信号被所述处理模块接收时的信号强度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在所述比对结果符合预设规定的情况下,确定所述第一天线组件和/或所述第二天线组件是否符合预设装配要求,包括:
在所述第一信号强度与所述第二信号强度的差值小于预设阈值的情况下,确定所述第一天线组件和/或所述第二天线组件符合预设装配要求。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述电子设备的通信特征,设置多个频率测试段;
在至少一个所述频率测试段上选定多个测频点;
将所述测频点确定为所述第一测试信号。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
按照预设调整规定对所述测频点进行变换,以在对多个所述电子设备的天线进行测试的情况下,避免多个所述电子设备之间出现干扰现象。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在将所述测频点确定为所述第一测试信号后,所述方法还包括:
对所述第一天线组件和所述第二天线组件进行同步控制,以使所述第一天线组件发出所述第一测试信号后,所述第二天线组件能够在与所述第一测试信号相同频率下同步的接收所述第一测试信号。
9.一种电子设备的天线测试装置,其特征在于,包括:
处理模块,其配置为根据触发指令,生成第一测试信号;
第一天线组件,其与所述处理模块连接,配置为从所述处理模块接收所述第一测试信号后,将所述第一测试信号发出;
第二天线组件,其与所述处理模块连接,配置为接收所述第一测试信号,形成相对应的第二测试信号;其中,
所述模块进一步配置为:比对所述第一测试信号的第一特征信息与所述第二测试信号的第二特征信息,形成相应的比对结果;在所述比对结果符合预设规定的情况下,确定所述第一天线组件和/或所述第二天线组件是否符合预设装配要求。
10.一种电子设备,其特征在于,包括如权利要求9所述的天线测试装置,并通过所述天线测试装置对所述电子设备的天线组件进行检测。
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