[发明专利]一种基于触摸装置区分材料属性的系统及方法

说明书

本发明公开了一种基于触摸装置区分材料属性的系统，包括电容式传感器单元、触摸控制单元和MCU控制单元，MCU控制单元与触摸控制单元连接，触摸控制单元与电容式传感器单元连接，电容式传感器单元包括电容式感应器和盖板；触摸控制单元包括电容式触摸控制器和烧录接口，触摸控制器的输出端与带有I²C通讯接口的主机连接；MCU控制单元包括与触摸控制器电连的MCU控制器，MCU控制器的输出端直接与标准的USB接口相连。本发明通过触摸控制单元读取电容式传感器的时时数据，检测微小的电容变化量，及时的检测出材料中是否包含金属杂质，防止对成型后的产品造成使用上的影响，极大的提高了材料区分的方便性及效率。

技术领域

本发明涉及电容式触摸技术领域，尤其是涉及一种基于触摸装置区分材料属性的系统及方法。

背景技术

近年来，随着科学技术水平的提高，特别是计算机技术、网络技术、通信技术、控制技术等领域的迅速发展，社会信息化也在加速发展，人们的工作生活和通讯的关系日益紧密，更多的智能化控制系统在这种形势下应运而生。随着智能技术的兴起，在不同的领域都得到了不少的应用，但是由于金属材质在一些通讯领域对信号的影响比较大，对外壳材料的属性要求比较严格，不能存在金属类的杂质，因为这些无法肉眼做判断，只能通过一些技术手段做分析，一旦生产原材或者生产过程中金属杂质混入，势必对最终的成品产生影响，材料损耗，生产成本增加，客户体验较差。近年来，随着智能控制的应用，这些问题已经出现得越来越平凡，也因为存在这样的问题，很多对材料要求较高的领域可能在生产制造中出现很多问题。因此，是否能够迅速的检测出金属对材料的影响，判别是否存在金属或类金属性质的杂质就显得尤为重要。鉴于以上原因，设计一种基于触摸装置区分材料属性的系统及方法是很有必要的。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于触摸装置区分材料属性的系统及方法，通过触摸控制单元读取电容式传感器的时时数据，检测微小的电容变化量，及时的检测出材料中是否包含金属杂质，防止对成型后的产品造成使用上的影响，极大的提高了材料区分的方便性及效率。

为实现上述目的，本发明提供了一种基于触摸装置区分材料属性的系统，包括电容式传感器单元、触摸控制单元和MCU控制单元，所述MCU控制单元与所述触摸控制单元连接，所述触摸控制单元与所述电容式传感器单元连接，所述电容式传感器单元包括电容式感应器和盖板，所述盖板用于保护所述电容式传感器；

所述触摸控制单元包括与所述电容式传感器电连的电容式触摸控制器和烧录接口，所述烧录接口用于直接测试或接入主机，所述触摸控制器的输出端与带有1²C通讯接口的主机连接，所述12C通讯接口上设置有保证上拉能力的上拉电阻；

所述MCU控制单元包括与所述触摸控制器电连的MCU控制器，所述MCU控制器的输出端直接与标准的USB接口相连。

优选的，所述MCU控制器为MCU控制芯片。

优选的，所述上拉电阻为3.3K欧的上拉电阻。

优选的，所述电容式传感器上连接有转接FPC。

一种基于触摸装置区分材料属性的方法，包括以下步骤：

首先将主机上的I²C通讯接口接入触摸控制器或者将主机上的标准USB接口接入MCU控制器；

其次由电容式感应器感应材质的电容变化量，触摸控制器接受电容式感应器的数据，直接上报主机或者将上述数据传送给MCU控制器，通过标准USB接口发送至主机。

因此，本发明采用上述结构的一种基于触摸装置区分材料属性的系统及方法，通过触摸控制单元读取电容式传感器的时时数据，检测微小的电容变化量，及时的检测出材料中是否包含金属杂质，防止对成型后的产品造成使用上的影响，极大的提高了材料区分的方便性及效率。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。