[发明专利]一种纹理细节级别的获取方法及获取装置有效
申请号: | 202011132703.1 | 申请日: | 2020-10-21 |
公开(公告)号: | CN112465887B | 公开(公告)日: | 2022-09-06 |
发明(设计)人: | 黄亮;秦信刚;熊庭刚;张磊 | 申请(专利权)人: | 武汉凌久微电子有限公司 |
主分类号: | G06T7/41 | 分类号: | G06T7/41;G06T15/04 |
代理公司: | 武汉泰山北斗专利代理事务所(特殊普通合伙) 42250 | 代理人: | 朱志勇 |
地址: | 430000 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纹理 细节 级别 获取 方法 装置 | ||
1.一种纹理细节级别的获取方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、判断纹理空间实际坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值A是否大于或等于纹理空间的实际坐标的第二个分量针对屏幕空间特定方向的求导值B,如果A≥B,进入步骤S2;如果A<B,进入步骤S7;
S2、通过定点加法运算计算A的以2为底的对数值log2A;
S3、将纹理空间的实际坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数Aman和指数Aexp,计算Aman的倒数
S4、将纹理空间的实际坐标的第二个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数Bman和指数Bexp,基于定点乘法运算计算的值;
S5、基于右移运算计算的值,并计算的值;
S6、基于定点加法运算计算的值,并右移1位获取屏幕空间特定方向的纹理细节级别的值,完成计算;
S7、通过定点加法运算计算B的以2为底的对数值log2B;
S8、将纹理空间的实际坐标的第二个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数Bman和指数Bexp,计算Bman的倒数并基于定点乘法运算计算的值;
将纹理空间的实际坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数Aman和指数Aexp;
S9、基于右移运算计算的值,并计算的值;
S10、基于定点加法运算计算的值,并右移1位获取屏幕空间特定方向的纹理细节级别的值,完成计算;
其中,以(x,y)表示屏幕空间的坐标,以(s,t)表示纹理空间的规范化坐标,以(u,v)表示纹理空间的实际坐标,以A表示B表示并分别用及表示,其中Aman及Bman的区间为[1.0,2.0);及分别用及表示,其中Asman及Atman的区间为[1.0,2.0)。
2.如权利要求1所述的一种纹理细节级别的获取方法,其特征在于:
其中步骤S2包括:
S21:计算纹理图像的宽度的以2为底的对数值log2width;
S22、将纹理空间的规范化坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数Asman和指数Asexp,计算Asman的以2为底的对数值log2(Asman);
S23、基于定点加法运算将步骤S21获得的log2width、步骤S22获得的log2(Asman)及Asexp相加计算A的以2为底的对数值log2A;
其中,width为纹理图像的宽度。
3.如权利要求1所述的一种纹理细节级别的获取方法,其特征在于:
步骤S7包括:
S71、计算纹理图像的高度的以2为底的对数值log2height;
S72、将纹理空间的规范化坐标的第二个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数Atman和指数Atexp,计算Atman的以2为底的对数值log2(Atman);
S73、基于定点加法运算将步骤S71获得的log2height、步骤S72获得的log2(Atman)及Atexp相加计算B的以2为底的对数值log2B;
其中,height为纹理图像的高度。
4.如权利要求1所述的一种纹理细节级别的获取方法,其特征在于:纹理细节级别的值为定点数,格式为SM.N,即包含M位整数位,N位小数位,S表示有符号数。
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