[发明专利]一种基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法及装置有效
申请号: | 202011133324.4 | 申请日: | 2020-10-21 |
公开(公告)号: | CN112526425B | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 郑世棋;李灏;翟玉卫;丁晨;刘霞美;程晓辉;范雅洁 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 付晓娣 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 标准件 测量 仪器 校准 方法 装置 | ||
1.一种基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法,其特征在于,包括:
控制热阻标准件处于预设温度下,向所述热阻标准件输入预设测试电流,并测量所述热阻标准件的第一结电压,根据所述预设温度和所述第一结电压确定所述热阻标准件的校温曲线;
向所述热阻标准件输入预设工作电流,待所述热阻标准件的结温稳定后,测量所述热阻标准件的第二结电压;
基于所述校温曲线以及所述第二结电压,确定所述热阻标准件在所述预设工作电流下的结温,并根据所述结温确定所述热阻标准件的标准热阻值;
根据所述标准热阻值对热阻测量仪器进行校准;
所述热阻标准件包括两组管脚;
所述向所述热阻标准件输入预设测试电流,并测量所述热阻标准件的第一结电压,包括:
向所述热阻标准件的其中一组管脚输入预设测试电流,通过所述热阻标准件的另一组管脚测量所述热阻标准件的第一结电压;
所述向所述热阻标准件输入预设工作电流,待所述热阻标准件的结温稳定后,测量所述热阻标准件的第二结电压,包括:
向所述热阻标准件的其中一组管脚输入预设工作电流,待所述热阻标准件的结温稳定后,通过所述热阻标准件的另一组管脚测量所述热阻标准件的第二结电压;
其中,所述预设测试电流为脉冲电流,所述预设工作电流为直流电流,所述预设测试电流的电流峰值与所述预设工作电流的电流值相同。
2.如权利要求1所述的基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法,其特征在于,所述根据所述结温确定所述热阻标准件的标准热阻值,包括:
式中,Rθjx为标准热阻值,Tj为结温,Tx为热阻标准件的壳温,PH为导致热阻标准件结温升高所耗散的功率。
3.如权利要求1所述的基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法,其特征在于,所述根据所述标准热阻值对热阻测量仪器进行校准,包括:
使用热阻测量仪器测量所述热阻标准件的热阻;
计算所述热阻与所述标准热阻值的差值,根据所述差值对所述热阻测量仪器进行校准。
4.如权利要求1所述的基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法,其特征在于,所述热阻标准件的二极管芯片为碳化硅材质的肖特基二极管芯片。
5.一种基于热阻标准件的热阻测量仪器校准装置,其特征在于,包括:
校温模块,用于控制热阻标准件处于预设温度下,向所述热阻标准件输入预设测试电流,并测量所述热阻标准件的第一结电压,根据所述预设温度和所述第一结电压确定所述热阻标准件的校温曲线;
测温模块,用于向所述热阻标准件输入预设工作电流,待所述热阻标准件的结温稳定后,测量所述热阻标准件的第二结电压;
标准热阻值计算模块,用于基于所述校温曲线以及所述第二结电压,确定所述热阻标准件在所述预设工作电流下的结温,并根据所述结温确定所述热阻标准件的标准热阻值;
校准模块,用于根据所述标准热阻值对热阻测量仪器进行校准;
所述热阻标准件包括两组管脚;
所述向所述热阻标准件输入预设测试电流,并测量所述热阻标准件的第一结电压,包括:
向所述热阻标准件的其中一组管脚输入预设测试电流,通过所述热阻标准件的另一组管脚测量所述热阻标准件的第一结电压;
所述向所述热阻标准件输入预设工作电流,待所述热阻标准件的结温稳定后,测量所述热阻标准件的第二结电压,包括:
向所述热阻标准件的其中一组管脚输入预设工作电流,待所述热阻标准件的结温稳定后,通过所述热阻标准件的另一组管脚测量所述热阻标准件的第二结电压;
其中,所述预设测试电流为脉冲电流,所述预设工作电流为直流电流,所述预设测试电流的电流峰值与所述预设工作电流的电流值相同。
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