[发明专利]变偏VSP速度分析方法、装置、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202011134635.2 | 申请日： | 2020-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN114460637A | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 殷厚成;肖云飞 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30;G01V1/40 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 孙向民;廉莉莉 |
| 地址： | 100027 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | vsp 速度 分析 方法 装置 电子设备 介质 | ||
1.一种变偏VSP速度分析方法，其特征在于，包括：
抽取共接收点ri道集；
根据所述共接收点ri道集提取直达波旅行时；
建立共反射点道集并进行速度分析，获得速度模型。
2.根据权利要求1所述的变偏VSP速度分析方法，其中，抽取共接收点ri道集包括：
根据VSP资料，从共炮点道集中抽取接收点Si-ri记录，按偏移距分选，形成共接收点ri道集。
3.根据权利要求1所述的变偏VSP速度分析方法，其中，速度分析包括：
在资料处理系统采用双曲线进行拟合。
4.根据权利要求1所述的变偏VSP速度分析方法，其中，速度分析包括：
通过速度分析公式进行计算求解。
5.根据权利要求4所述的变偏VSP速度分析方法，其中，速度分析公式为：
其中，Vrms为均方根速度。
6.根据权利要求1所述的变偏VSP速度分析方法，其中，还包括：
进行速度校验，修改速度模型。
7.根据权利要求6所述的变偏VSP速度分析方法，其中，速度校验为动校校验或正演模拟校验。
8.一种变偏VSP速度分析装置，其特征在于，包括：
道集抽取模块，抽取共接收点ri道集；
提取旅行时模块，根据所述共接收点ri道集提取直达波旅行时；
速度分析模块，建立共反射点道集并进行速度分析，获得速度模型。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
存储器，存储有可执行指令；
处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-7中任一项所述的变偏VSP速度分析方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的变偏VSP速度分析方法。
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