[发明专利]曲面屏光学参数的测量方法和装置

权利要求书

1.一种曲面屏光学参数的测量方法，其特征在于，包括：

针对所述曲面屏上的每个曲面，获取所述曲面的半径；

根据所述曲面的半径，确定所述曲面对应的最佳观测点；

在所述最佳观测点，针对所述曲面上的每个测试区，控制辉度计对准所述测试区，并对所述测试区的光学参数进行测量，得到所述测试区在垂直方向上的光学参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述曲面的半径，确定所述曲面对应的最佳观测点，包括：

若所述曲面为凹面，则根据所述半径确定所述曲面对应的原点，将所述原点确定为最佳观测点。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述曲面的半径，确定所述曲面对应的最佳观测点，包括：

若所述曲面为凸面，则根据所述半径确定所述曲面对应的原点，在所述曲面的凸面侧且在所述原点发出的射线上确定所述最佳观测点。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述曲面的半径，包括：

控制激光测距仪测量所述曲面被截的一侧对应弦长以及所述曲面被截的一侧的圆切点到所述弦长的垂直距离；

根据所述弦长以及所述垂直距离，确定所述半径。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述测试区的光学参数进行测量之前，所述方法还包括：

在所述曲面屏上确定中心测试区；

从所述中心测试区等分外扩得到N个测试区，N为正整数。

6.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述曲面屏上所有曲面上所有测试区在垂直所述测试区方向上的光学参数，确定所述光学参数对应的均一性值；

根据所述光学参数对应的均一性值，对所述曲面屏的光学特性进行评价。

7.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述最佳观测点，针对所述曲面上的每个测试区，使用辉度计对准所述测试区，将所述辉度计朝向预设方向旋转预设角度后对所述测试区的光学参数进行测量，得到所述测试区在所述预设角度处的光学参数；

根据所述测试区在垂直所述测试区方向上的光学参数以及在所述预设角度处的光学参数，确定光学参数的变化量；

根据所述光学参数的变化量，对所述曲面屏的光学特性进行评价。

8.一种曲面屏光学参数的测量装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于针对所述曲面屏上的每个曲面，获取所述曲面的半径；

确定模块，用于根据所述曲面的半径，确定所述曲面对应的最佳观测点；

测量模块，用于在所述最佳观测点，针对所述曲面上的每个测试区，控制辉度计对准所述测试区，并对所述测试区的光学参数进行测量，得到所述测试区在垂直方向上的光学参数。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；以及

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来实现权利要求1-7任一项所述的方法。