[发明专利]用于ZQ校准的设备及方法在审
申请号: | 202011136628.6 | 申请日: | 2020-10-22 |
公开(公告)号: | CN112908398A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 何源;佐藤康夫 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G11C29/02 | 分类号: | G11C29/02;G11C29/50 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 zq 校准 设备 方法 | ||
1.一种设备,其包括:
输入/输出IO电路;
ZQ校准电路,其经配置以:
响应于有效ZQ校准控制信号执行ZQ校准来提供ZQ校准代码;及
响应于无效ZQ校准控制信号不执行ZQ校准;及
ZQ校准控制电路,其耦合到所述IO电路及所述ZQ校准电路,且经配置以响应于ZQ校准信号:
当电压/温度条件匹配存储于寄存器阵列中的电压/温度条件时提供所述无效ZQ校准控制信号;或
当所述电压/温度条件不匹配存储于所述寄存器阵列中的任何电压/温度条件时提供所述有效ZQ校准控制信号。
2.根据权利要求1所述的设备,其中所述ZQ校准控制电路进一步经配置以当所述电压/温度条件匹配所述寄存器阵列中的所述电压/温度条件时:
检索与所述寄存器阵列中的所述匹配电压/温度条件相关联的ZQ校准代码;及
将所述经检索ZQ校准代码提供到所述IO电路。
3.根据权利要求1所述的设备,其中所述ZQ校准控制电路包括温度比较器,所述温度比较器经配置以从温度传感器接收温度信号及如果所述温度信号中的温度值不匹配所述寄存器阵列中的任何温度条件,那么提供所述有效ZQ校准控制信号。
4.根据权利要求3所述的设备,其中所述ZQ校准控制电路进一步包括耦合到所述温度比较器的电压比较器,且其中所述温度比较器进一步经配置以当所述温度信号中的所述温度值匹配存储于所述寄存器阵列中的一或多个温度条件时激活所述电压比较器。
5.根据权利要求4所述的设备,其中所述电压比较器包括:
多个放大器,其经配置以接收电压信号及提供所述电压信号的电压代码;及
电压代码比较器,其耦合到所述多个放大器且经配置以:
如果所述电压信号的所述电压代码不匹配与所述寄存器阵列中的所述一或多个匹配温度条件相关联的任何电压条件,那么提供所述有效ZQ校准控制信号;否则
提供所述无效ZQ校准控制信号;
其中所述寄存器阵列中的电压条件也由相应电压代码表示。
6.根据权利要求5所述的设备,其中所述多个放大器中的每一者耦合到电压线以接收所述电压信号且耦合到参考电压线以接收参考电压的相应变化,其中所述多个放大器的输出形成所述电压信号的所述电压代码。
7.根据权利要求5所述的设备,其中所述ZQ校准控制电路进一步包括切换电路,所述切换电路耦合到所述电压比较器、所述温度比较器及所述IO电路,且经配置以:
响应于所述有效ZQ校准控制信号,将由所述ZQ校准电路提供的所述ZQ校准代码提供到所述IO电路;及
响应于所述无效ZQ校准控制信号,将存储于所述寄存器阵列中的ZQ校准代码提供到所述IO电路。
8.根据权利要求1所述的设备,其中所述寄存器阵列包括多个寄存器,所述多个寄存器各自含有来自先前ZQ校准的相应电压/温度条件及相关联ZQ校准代码。
9.根据权利要求8所述的设备,其中所述寄存器阵列进一步包括各自与所述多个寄存器中的相应寄存器相关联的多个计数器,其中:
当所述电压/温度条件匹配所述寄存器阵列中的所述电压/温度条件时,与含有所述匹配电压/温度条件的寄存器相关联的计数器经配置以递增。
10.根据权利要求9所述的设备,其中所述ZQ校准控制电路进一步经配置以当所述电压/温度条件不匹配所述寄存器阵列中的任何电压/温度条件时:
选择所述寄存器阵列中的寄存器;及
用由所述ZQ校准电路提供的所述ZQ校准代码及所述电压/温度条件更新所述所选择寄存器。
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