[发明专利]一种适于RFI工艺的树脂膜预置量的计算方法

权利要求书

1.一种适于RFI工艺的树脂膜预置量的计算方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

建立树脂膜预置量控制模型；

依据树脂膜铺放方式、厚度将制件划分为不同厚度的层间铺放区域和集中铺放区域；

建立预期树脂膜厚度计算模型，按制件期望的厚度值计算预期树脂膜厚度；

计算所述层间铺放区域的树脂膜预置量；

计算所述集中铺放区域的树脂膜预置量；

计算预置树脂膜的尺寸和层数。

2.根据权利要求1所述的适于RFI工艺的树脂膜预置量的计算方法，其特征在于，所述建立树脂膜预置量控制模型，具体为：

依据纤维体积含量及树脂损耗，建立预置树脂膜厚度与制件厚度的关系，控制树脂膜预置量，所述预置树脂膜厚度与所述制件厚度之间满足第一公式；

其中，所述第一公式为t_R＝a+(1-V_f)*t；

式中，t_R为所述预置树脂膜厚度，单位为mm；

t为所述制件厚度，单位为mm；

a为树脂损耗修正值，单位为mm；

V_f为理论纤维体积含量，按设计技术要求的纤维体积含量或第二公式计算；其中，所述第二公式为

V_f＝W_f/(10³*ρ_f*t₀)；

式中，t₀为层合板结构中制件的理论单层厚度或三维编织结构中三维编织体的理论厚度，单位为mm；

W_f为层合板结构中纤维织物面密度或三维编织结构中三维编织体的单位面积纤维重量，单位为g/m²；

ρ_f为纤维密度，单位为g/cm³。

3.根据权利要求2所述的适于RFI工艺的树脂膜预置量的计算方法，其特征在于，依据所述第一公式及纤维体积含量公差(K₁，K₂)，按第三公式、第四公式计算所述预置树脂膜厚度的最大值t_RK1和最小值t_RK2；

其中，所述第三公式为t_RK1＝a+(1-V_f-K₁)*t；

所述第四公式为t_RK2＝a+(1-V_f-K₂)*t；

式中，t_RK1为厚度为t的制件区域预置树脂膜厚度最大值，单位为mm；

t_RK2为所述厚度为t的制件区域预置树脂膜厚度最小值，单位为mm；

K₁为制件纤维体积含量的下偏差，按技术要求的纤维体积含量下偏差值或依据厚度公差(k₂，k₁)中的上偏差k₁按第五公式计算；

所述第五公式为K₁＝-V_f*k₁/(1+k₁)；

K₂为所述制件纤维体积含量的上偏差，按技术要求的纤维体积含量上偏差值或依据厚度公差(k₂，k₁)中的下偏差k₂按第六公式计算；

所述第六公式为K₂＝-V_f*k₂/(1+k₂)；

当所述纤维体积含量公差、所述树脂损耗修正值和所述预置树脂膜厚度满足第一设定条件时，所述制件厚度在要求的偏差范围之内；

其中，所述第一设定条件为a+(1-V_f-K₂)*t≤t_R≤a+(1-V_f-K₁)*t。