[发明专利]半导体装置

权利要求书

1.一种半导体装置，包括：

开关网络；

参考阻抗器件，包括参考电容器和参考电阻器；

控制电路，被配置为基于与目标阻抗器件的阻抗性质相关联的测量请求来控制所述开关网络，以使所述参考阻抗器件中的、与所述目标阻抗器件的阻抗性质不同的参考阻抗器件耦合至比较电路，其中如果所述目标阻抗器件为电阻器，则所述参考阻抗器件为参考电容器，并且如果所述目标阻抗器件为电容器，则所述参考阻抗器件为参考电阻器；

所述比较电路被配置为基于表示所述参考阻抗器件的参考阻抗值的参考电压和表示目标阻抗器件的目标阻抗值的目标电压来生成触发信号；以及

所述控制电路被进一步配置为：

基于所述触发信号，确定第一时段；

改变用于表示所述参考阻抗器件的参考阻抗值的电压和用于表示所述目标阻抗器件的所述目标阻抗值的电压；

基于针对经改变的参考电压和目标电压的触发信号，确定第二时段；

基于所述第一时段和所述第二时段，确定目标器件的阻抗值。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述比较电路被进一步配置为：

在第一端接收用于表示所述目标阻抗器件和所述参考阻抗器件中的电阻器的阻值的第一电压；

在第二端接收用于表示所述目标阻抗器件和所述参考阻抗器件中的充电电容器的电容值的充电电压；并且

响应于所述充电电容器上的充电电压被充电至等于所述第一电压，生成所述触发信号；以及

所述控制电路被进一步配置为：

在根据所述第一电压生成所述触发信号的情形下，确定第一测量时段，所述第一测量时段是从所述控制电路生成用于使所述充电电容器开始充电的第一充电控制信号至所述控制电路接收到所述触发信号的时段；

将所述目标阻抗器件和所述参考阻抗器件中的电阻器上的第一电压改变至第二电压；

在根据所述第二电压生成所述触发信号的情形下，确定第二测量时段，所述第二测量时段是从所述控制电路生成用于使所述充电电容器开始充电的第二充电控制信号至所述控制电路接收到所述触发信号的时段；

计算所述第一测量时段和所述第二测量时段之间的第一时间差值；以及

基于所述第一时间差值和所述参考阻抗器件的所述参考阻抗值，确定所述目标阻抗器件的所述目标阻抗值。

3.根据权利要求2所述的半导体装置，其中所述控制电路被进一步配置为：

如果所述第一测量时段低于阈值，则在根据所述第一电压生成所述触发信号的情形下，重复确定第一测量时段，并且基于多个第一测量时段，确定多个第一测量时段的均值；

如果所述第二测量时段低于所述阈值，则在根据所述第二电压生成所述触发信号的情形下，重复确定第二测量时段，并且基于多个第二测量时段，确定多个第二测量时段的均值；

计算所述多个第一测量时段的均值和所述第二测量时段的均值之间的第二时间差值；以及

基于所述第二时间差值和所述参考阻抗器件的阻抗值，确定所述目标阻抗器件的阻抗值。

4.根据权利要求3所述的半导体装置，其中所述控制电路包括第一计数器，所述第一计数器被配置为：

在从所述控制电路生成用于使所述充电电容器开始充电的第一充电控制信号至所述控制电路接收到所述触发信号的期间，对所接收的时钟信号进行计数，以确定所述第一测量时段；以及

在从所述控制电路生成用于使所述充电电容器开始充电的第二充电控制信号至所述控制电路接收到所述触发信号的期间，对所接收的时钟信号进行计数，以确定所述第二测量时段。

5.根据权利要求4所述的半导体装置，其中所述控制电路包括第二计数器，所述第二计数器被配置为：

对重复确定所述第一测量时段的次数进行计数，以确定所述多个第一测量时段的均值；以及

对重复确定所述第二测量时段的次数进行计数，以确定所述多个第二测量时段的均值。