[发明专利]一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置在审
申请号: | 202011142655.4 | 申请日: | 2020-10-23 |
公开(公告)号: | CN112435952A | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 高明起;徐榕青;刘道林;闫帅鹏;赵鸣霄;白良昌;伍泽亮;贾进浩 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/67 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 徐静 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 芯片 弹性 凝胶 分离 装置 | ||
1.一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,包括:
n个负压夹具,所述负压夹具用于对芯片托盘的底部施加负压,减小所述芯片托盘上弹性凝胶膜对芯片的粘接力,以便于拾取芯片;n1;
n个开关装置,所述开关装置用于实现所述负压夹具上负压的通断;
真空泵,用于为所述负压夹具提供负压。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述开关装置的一端连接所述负压夹具,另一端通过一个三通接入所述真空泵的进气通路。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述负压夹具包括底座,以及设置于所述底座上的m个负压装置,m1;所述负压装置包括凸台、密封圈和负压孔,所述凸台设置于所述底座上,作为所述芯片托盘的载体;所述密封圈设置于所述凸台上,以保证所述凸台与所述芯片托盘的密封性;所述负压孔设置于所述凸台的中央,用于对所述芯片托盘的底部施加负压。
4.根据权利要求3所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述负压夹具还包括气体通道和螺纹直通,所述气体通道设置于所述底座内,连接m个所述负压孔;所述螺纹直通的一端通过所述气体通道连接所述负压孔,另一端连接所述开关装置。
5.根据权利要求3所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述m个负压装置在所述底座上设置为“一”字型、“L”型或矩阵形状。
6.根据权利要求3所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述负压装置没有被使用时,通过橡胶塞堵住所述负压孔,以保证足够的负压。
7.根据权利要求1或2所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述真空泵的进气端设置有带快速接头的直通或宝塔型直通。
8.根据权利要求1或2所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述真空泵的出气端设置有除尘装置。
9.根据权利要求1或2所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述真空泵设置为干泵,即无油干式机械真空泵。
10.根据权利要求2所述的一种用于芯片与弹性凝胶膜分离的装置,其特征在于,所述三通设置为带有快速接头的“T”型三通或宝塔“T”型三通。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造