[发明专利]用于检测目标物体的方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202011143175.X | 申请日: | 2020-10-23 |
公开(公告)号: | CN112149636B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 袁宇辰 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司 |
主分类号: | G06V20/40 | 分类号: | G06V20/40;G06V20/52;G06V10/25;G06V10/44;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;马晓亚 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 目标 物体 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种用于检测目标物体的方法,包括:
获取待检测图像;
利用包含可形变卷积层的物体检测模型处理所述待检测图像,得到所述可形变卷积层的偏移预测结果;
利用所述偏移预测结果调整锚点的尺寸,并利用调整后尺寸的锚点确定所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息;
其中,所述利用包含可形变卷积层的物体检测模型处理所述待检测图像,包括:
利用所述物体检测模型从所述待检测图像中提取得到初始图像特征;
针对尺寸小于预设尺寸的物体,向外扩张所述可形变卷积层的可形变卷积核,并利用外扩后的可形变卷积核处理所述初始图像特征,得到小尺寸物体图像特征;针对尺寸不小于所述预设尺寸的物体,向内收缩所述可形变卷积层的可形变卷积核,并利用内缩后的可形变卷积核处理所述初始图像特征,得到大尺寸物体图像特征。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述利用所述偏移预测结果调整锚点的尺寸,并利用调整后尺寸的锚点确定所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息,包括:
将所述偏移预测结果中的预测偏移量反向叠加至所述锚点的默认尺寸上,得到所述锚点的新尺寸;
利用所述新尺寸的锚点确定所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述利用调整后尺寸的锚点确定所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息,包括:
利用所述调整后尺寸的锚点预测得到当前检测框的坐标偏移值;
将确定包含所述目标物体的中心点的检测框确定为目标检测框;
根据所述目标检测框的坐标偏移值计算得到所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息。
4.根据权利要求1所述的方法,针对尺寸不小于所述预设尺寸的物体,在得到所述大尺寸物体图像特征之前,还包括:
执行预设数量的下采样操作。
5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,还包括:
将与所述位置信息对应区域内包含的目标物体确定为跟踪目标;
从包含所述跟踪目标的视频中确定所述跟踪目标的行动轨迹。
6.一种用于检测目标物体的装置,包括:
待检测图像获取单元,被配置成获取待检测图像;
偏移预测结果获取单元,被配置成利用包含可形变卷积层的物体检测模型处理所述待检测图像,得到所述可形变卷积层的偏移预测结果;
锚点尺寸调整及位置确定单元,被配置成利用所述偏移预测结果调整锚点的尺寸,并利用调整后尺寸的锚点确定所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息;
所述偏移预测结果获取单元被进一步配置成:利用所述物体检测模型从所述待检测图像中提取得到初始图像特征;针对尺寸小于预设尺寸的物体,向外扩张所述可形变卷积层的可形变卷积核,并利用外扩后的可形变卷积核处理所述初始图像特征,得到小尺寸物体图像特征;针对尺寸不小于所述预设尺寸的物体,向内收缩所述可形变卷积层的可形变卷积核,并利用内缩后的可形变卷积核处理所述初始图像特征,得到大尺寸物体图像特征。
7.根据权利要求6所述的装置,其中,所述锚点尺寸调整及位置确定单元进一步被配置成:
将所述偏移预测结果中的预测偏移量反向叠加至所述锚点的默认尺寸上,得到所述锚点的新尺寸;
利用所述新尺寸的锚点确定所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息。
8.根据权利要求6所述的装置,其中,所述锚点尺寸调整及位置确定单元包括被配置成利用调整后尺寸的锚点确定所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息的位置确定子单元,所述位置确定子单元进一步被配置成:
利用所述调整后尺寸的锚点预测得到当前检测框的坐标偏移值;
将确定包含所述目标物体的中心点的检测框确定为目标检测框;
根据所述目标检测框的坐标偏移值计算得到所述目标物体在所述待检测图像中的位置信息。
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