[发明专利]一种基于抽样序列长度约束条件下的SAR成像方法在审
申请号: | 202011144087.1 | 申请日: | 2020-10-23 |
公开(公告)号: | CN112305541A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 王振力;王群;马如坡;印杰;郁烨;刘家银 | 申请(专利权)人: | 江苏警官学院 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 郭楠 |
地址: | 210031 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 抽样 序列 长度 约束 条件下 sar 成像 方法 | ||
1.一种基于抽样序列长度约束条件下的SAR成像方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)SAR回波信号应用分数阶Fourier变换的阶数计算;
(2)设定抽样序列长度约束条件;
(3)高分辨SAR成像方法的构建。
2.根据权利要求1所述的基于抽样序列长度约束条件下的SAR成像方法,其特征在于:步骤(1)包括以下内容:
(1.1)信号模型构建
假定SAR在任意位置发射的LFM信号如式(1)所示:
其中τ为快时间变量,Tr为脉冲宽度,fc为载波频率,κr为SAR回波信号的调频率,c为光速,rect(·)为矩形窗函数;
(1.2)分数阶Fourier变换定义式
连续信号f(x)的分数阶Fourier变换定义式为
其中Kα(u,x)为分数阶Fourier变换的核函数,α为旋转角度且μ为分数阶Fourier变换的阶数;
(1.3)方位向最优阶数计算
SAR方位向回波信号近似为LFM信号,如式(3)所示:
sa(t)=Wa(t)exp(j2πfdct+jπκat2) (3)
其中fdc为多普勒中心频率,κa为方位向调频率,Wa(t)=rect(t/Ta),Ta为合成孔径时间;根据式(2)和式(3)进行变换分析计算SAR方位向回波信号运用分数阶Fourier变换时的最优阶数为
其中arctan(·)为反正切函数,Na为方位向抽样序列长度,Fa为方位向抽样频率;
(1.4)距离向最优阶数计算
根据式(1)和式(2)进行变换分析计算SAR距离向回波信号,运用分数阶Fourier变换时的最优阶数为
其中Nr为距离向抽样序列长度,Fr为距离向抽样频率。
3.根据权利要求1所述的基于抽样序列长度约束条件下的SAR成像方法,其特征在于:步骤(2)包括以下内容:
(2.1)初始序列长度设定
设PRF表示脉冲重复频率(Pulse Repetition Frequency),则距离向初始序列长度方位向初始序列长度分别如式(6)和式(7)所示:
其中INT[·]表示取整函数,γ、δ表示变常数,在机载SAR成像时取γ=1.2、δ=1.2;
(2.2)最佳抽样序列长度确定
分别以初始序列数值为中心,在一定范围内改变(增大或减小)抽样序列长度,观察SAR图像分辨率,同时结合图像的性能评估指标,最终确定最佳的抽样序列长度计算表达式,分别如式(8)、式(9)所示:
其中argmin[·]表示使目标函数取最小值时的变量值;表示距离向最佳抽样序列长度、表示方位向最佳抽样序列长度,相应使得距离向分辨率ρr、方位向分辨率ρa达到最小值;Nr表示可变的距离向,Na表示方位向抽样序列长度;PSLR(Nr)表示Nr变化时的距离向峰值旁瓣比,ISLR(Nr)表示Nr变化时的积分旁瓣比;PSLR(Na)表示Na变化时的方位向峰值旁瓣比,ISLR(Na)表示Na变化时的积分旁瓣比;式(8)和式(9)分别表示在寻求分辨率最小值的情况下获得|PSLR|和|ISLR|的最大值。
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