[发明专利]定位测试方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种定位测试方法，其特征在于，包括：

获取至少一个图像对，其中，所述图像对包括第一图像和第二图像，所述第一图像由参照设备拍摄标定对象获得，所述第二图像由目标设备拍摄任意对象获得，所述参照设备和所述目标设备固定连接，所述参照设备包括双目相机，所述双目相机由第一子相机和第二子相机组成，所述标定对象包括按照固定间隔排列的多个标定物；

根据所述第一图像中的标定物与所述标定对象中的标定物之间的空间对应关系，计算得到所述第一子相机的第一子位姿；

获取所述双目相机的外参数据；

根据所述第一子位姿和所述外参数据，计算得到所述第二子相机的第二子位姿；

根据所述第一子位姿和所述第二子位姿，获得第一位姿；

根据所述第二图像，计算所述目标设备的第二位姿；

根据所述第一位姿和所述第二位姿，确定所述目标设备的定位性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一位姿和所述第二位姿，确定所述目标设备的定位性能，包括：

根据所述参照设备和所述目标设备之间的相对位置关系，对所述第一位姿和所述第二位姿进行位姿变换处理，获得第一目标位姿和第二目标位姿，其中，所述第一目标位姿和所述第二目标位姿处于同一坐标空间内；

根据所述第一目标位姿和所述第二目标位姿，确定所述目标设备的定位性能。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一目标位姿和所述第二目标位姿，确定所述目标设备的定位性能，包括：

获取所述第一目标位姿和所述第二目标位姿之间的位姿误差；

根据所述位姿误差，确定所述目标设备的定位性能。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述位姿误差包括表征所述第一目标位姿和所述第二目标位姿之间的绝对误差的第一位姿误差，以及，表征所述第一目标位姿和所述第二目标位姿之间的相对误差的第二位姿误差。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述至少一个图像对与至少一个拍摄位姿对应；

所述根据所述位姿误差，确定所述目标设备的定位性能，包括：

根据所述至少一个图像对，获得所述参照设备和所述目标设备之间的多个位姿误差；

根据所述多个位姿误差，获得统计数据；

根据所述统计数据，确定所述目标设备的定位性能。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述统计数据包括以下至少一种：所述多个位姿误差的均方根、所述多个位姿误差的中位数、所述多个位姿误差中的最大值，以及所述多个位姿误差中的最小值。

7.一种定位测试装置，包括：

图像对获取模块，用于获取至少一个图像对，其中，所述图像对包括第一图像和第二图像，所述第一图像由参照设备拍摄标定对象获得，所述第二图像由目标设备拍摄任意对象获得，所述参照设备和所述目标设备固定连接，所述参照设备包括双目相机，所述双目相机由第一子相机和第二子相机组成，所述标定对象包括按照固定间隔排列的多个标定物；

位姿计算模块，用于根据所述第一图像中的标定物与所述标定对象中的标定物之间的空间对应关系，计算得到所述第一子相机的第一子位姿；获取所述双目相机的外参数据；根据所述第一子位姿和所述外参数据，计算得到所述第二子相机的第二子位姿；根据所述第一子位姿和所述第二子位姿，获得第一位姿；根据所述第二图像，计算所述目标设备的第二位姿；

定位性能确定模块，用于根据所述第一位姿和所述第二位姿，确定所述目标设备的定位性能。

8.一种电子设备，包括权利要求7所述的装置；或者，

所述电子设备包括：

存储器，用于存储可执行的指令；

处理器，用于根据所述指令的控制运行所述电子设备执行如权利要求1-6任意一项所述的方法。