[发明专利]电解电容寿命预测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种电解电容寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测电解电容的相关电学参数；所述相关电学参数用于表征所述待测电解电容在工作时的温度值和电容值；

将所述待测电解电容的相关电学参数输入至预设的神经网络模型中，通过所述神经网络模型对所述待测电解电容的相关电学参数进行处理，确定所述待测电解电容的预测寿命值；

其中，所述神经网络模型是基于多个样本电解电容的相关电学参数和每个样本电解电容对应的标准寿命值进行训练得到的。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述待测电解电容的相关电学参数输入至预设的神经网络模型中，通过所述神经网络模型对所述待测电解电容的相关电学参数进行处理，确定所述待测电解电容的预测寿命值，包括：

将所述待测电解电容的相关电学参数输入至所述神经网络模型中，在所述神经网络模型中根据预设的电解电容寿命曲线确定所述相关电学参数对应的第一预测寿命值，以及对所述待测电解电容的温度值进行数学运算处理，确定所述待测电解电容的第二预测寿命值，并根据所述第一预测寿命值和所述第二预测寿命值确定所述待测电解电容的预测寿命值；

其中，所述电解电容寿命曲线为表征电解电容的相关电学参数以及寿命值之间对应关系的曲线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测电解电容在工作时的温度值包括所述待测电解电容所处环境的温度值和所述待测电解电容内部的温度值，所述对所述待测电解电容的温度值进行数学运算处理，确定所述待测电解电容的第二预测寿命值，包括：

对所述待测电解电容所处环境的温度值和所述待测电解电容内部的温度值进行求幂运算处理，得到所述待测电解电容的第二预测寿命值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测电解电容的相关电学参数还包括所述待测电解电容的电流值和电压值，所述待测电解电容内部的温度值的获取方式包括：

根据所述待测电解电容的电流值和电压值，对所述待测电解电容的功率损耗进行计算，得到所述待测电解电容的功率损耗；

获取所述待测电解电容对应的电容热阻；

对所述电容热阻和所述功率损耗进行乘积运算处理，得到所述待测电解电容内部的温度值。

5.根据权利要求2-4任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一预测寿命值和所述第二预测寿命值确定所述待测电解电容的预测寿命值，包括：

对所述第一预测寿命值和所述第二预测寿命值进行加权求和处理，得到所述待测电解电容的预测寿命值。

6.根据权利要求1-4任意一项所述的方法，其特征在于，在所述获取待测电解电容的相关电学参数之前，所述方法还包括：

获取所述待测电解电容在初始化状态下的第一电容值以及所述待测电解电容在正常工作状态下的第二电容值；

根据所述第一电容值获得对应的第一寿命值，以及根据所述第二电容值获得对应的第二寿命值；

将所述第一寿命值和所述第二寿命值进行对比，得到第一对比结果，并根据所述第一对比结果确定是否返回执行所述获取待测电解电容的相关电学参数的步骤。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述第一寿命值和所述第二寿命值进行对比，得到第一对比结果，包括：

计算所述第一寿命值和所述第二寿命值之间的差值绝对值；

将所述差值绝对值和预设的寿命误差阈值进行对比，得到所述第一对比结果。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一对比结果确定是否返回执行所述获取待测电解电容的相关电学参数的步骤，包括：

若所述第一对比结果为所述差值绝对值小于所述寿命误差阈值，则将所述第二寿命值确定为初始寿命值，并返回执行所述获取待测电解电容的相关电学参数的步骤。