[发明专利]一种天线测试工装及天线测试设备

权利要求书

1.一种天线测试工装，其特征在于，所述天线测试工装包括基板、匹配电路和至少一对接触线，所述匹配电路和所述接触线均设置于所述基板的同侧表面；所述匹配电路包括馈电端口和地端口，每对所述接触线中任一条所述接触线的一端与所述馈电端口电性连接，另一条所述接触线的一端与所述地端口电性连接；所有所述接触线上间隔排布若干接触点，所述接触点用于与待测试的天线的地点或馈电点电性接触。

2.根据权利要求1所述的天线测试工装，其特征在于，所有所述接触线朝远离所述匹配电路的方向呈放射状分布。

3.根据权利要求1所述的天线测试工装，其特征在于，所述接触线为导电线，所有所述接触线除所述接触点外的其他部位均进行绝缘保护。

4.根据权利要求1所述的天线测试工装，其特征在于，每条所述接触线上的所有所述接触点等间隔排布。

5.根据权利要求1所述的天线测试工装，其特征在于，所述匹配电路包括串联连接的滤波电路和调谐电路，所述调谐电路与所述接触线电性连接；所述滤波电路用于滤除测试信号中的高频杂波；所述调谐电路用于调谐滤波后的所述测试信号。

6.根据权利要求5所述的天线测试工装，其特征在于，所述滤波电路包括相互并联的第一LC电路和第二LC电路，所述第一LC电路与第二LC电路相同，均包括串联连接的电容和电感。

7.根据权利要求6所述的天线测试工装，其特征在于，所述电容的取值范围为640～720pF，所述电感的取值范围为120～200nH。

8.根据权利要求5所述的天线测试工装，其特征在于，所述调谐电路包括相互并联的第一电容电路和第二电容电路，所述第一电容电路和所述第二电容电路相同，均包括串联连接的第一子电容和第二子电容。

9.根据权利要求8所述的天线测试工装，其特征在于，所述第一子电容和所述第二子电容的取值范围为10～100pF。

10.一种天线测试设备，其特征在于，所述天线测试设备包括网络分析仪和如权利要求1～9任一项所述的天线测试工装，所述网络分析仪和所述匹配电路电性连接，用于输出测试信号并对待测试的天线进行测试。