[发明专利]一种改善抛光头研磨液结晶的方法有效
申请号: | 202011155005.3 | 申请日: | 2020-10-26 |
公开(公告)号: | CN112405352B | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 尚散散;贺贤汉 | 申请(专利权)人: | 上海中欣晶圆半导体科技有限公司 |
主分类号: | B24B55/00 | 分类号: | B24B55/00 |
代理公司: | 上海申浩律师事务所 31280 | 代理人: | 赵建敏 |
地址: | 200444 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 抛光 研磨 结晶 方法 | ||
本发明涉及半导体硅片加工技术领域。一种改善抛光头研磨液结晶的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,剪裁精抛研磨布,以精抛研磨布作为抛光头保护垫;步骤二,抛光头表面擦拭干净;步骤三,将剪裁好的抛光头保护垫粘附在所述抛光头的上表面。本专利解决了抛光头结晶造成机械伤不良。解决了抛光头停机保养困难.提高产能工作效率。
技术领域
本发明涉及半导体硅片加工技术领域,具体涉及一种改善抛光头研磨液结晶的方法。
背景技术
在半导体硅片镜面抛光过程中,颗粒的落入无疑是造成机械伤的主要原因,对于镜面抛光工序来说最易产生大颗粒区域为抛光头上研磨液结晶。抛光头结晶长时间堆积,达到一定的厚度在加工产品过程中自然脱落造成机械伤。
传统研磨头的保养方法为1)抛光头停止定盘上铺上塑料薄膜;2)拆去抛光头外罩;3)抛光头涂NaOH药液腐蚀4小时;4)腐蚀结束后使用纯水冲洗抛光头;5)待抛光头NaOH药液冲洗干净使用刀片刮去未腐蚀掉的研磨剂结晶;6)刀片刮干净后在使用纯水冲洗抛光头。
通过上述保养方法对抛光头结晶的清除,常需要大量的人力物力时间停机进行抛光头结晶清除。
发明内容
针对现有技术存在的问题,本发明提供一种改善抛光头研磨液结晶的方法,以解决抛光头上存有研磨液结晶的问题。
本发明的技术方案是:一种改善抛光头研磨液结晶的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一,剪裁精抛研磨布,以精抛研磨布作为抛光头保护垫;
步骤二,抛光头表面擦拭干净;
步骤三,将剪裁好的抛光头保护垫粘附在所述抛光头的上表面。
本专利解决了抛光头结晶造成机械伤不良。解决了抛光头停机保养困难.提高产能工作效率。改善后抛光头保养无需每月停机一天做保养,只需要在平时工作中抛光头保护垫破损污迹更换大约6个月/次。保养方便更换一枚抛光头保护垫3-5分钟完成简单方便。灵活多样可以适应不同抛光设备抛光头,灵活裁剪抛光头大小的保护垫制作防护垫。
进一步优选地,步骤三之后,黏贴完成压去抛光头保护垫上气泡冲洗干净。
进一步优选地,抛光头保护垫通过纯水冲洗干净。避免引入杂质。
进一步优选地,所述抛光头保护垫是一内开圆孔的圆形保护垫。便于匹配抛光头的结构。
进一步优选地,所述抛光头保护垫的外径大于抛光头外径,且差值为28mm-32mm。
进一步优选地,所述抛光头保护垫的内径与传动主轴的外径之间差值为0mm-1mm。
进一步优选地,所述抛光头保护垫的圆孔的内径为130mm,所述圆形保护垫的外径为390mm。
该尺寸适用于抛光头的外径为360mm,抛光头的传动主轴的外径为130mm。
进一步优选地,所述抛光头保护垫上开设有一径向延伸的割痕。
便于抛光头保护垫安装至抛光头上。
进一步优选地,每5-6个月替换一次抛光头保护垫。
进一步优选地,步骤二,通过酒精对抛光头表面擦拭干净。
附图说明
图1为本发明的局部结构示意图。
图中,1为抛光头保护垫,2为抛光头,3为传动主轴。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的说明。
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