[发明专利]用于平行光管的可调节式焦面组件位置标定方法有效

专利信息
申请号: 202011156316.1 申请日: 2020-10-26
公开(公告)号: CN112532969B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 刘尚阔;赵建科;周艳;焦璐璐;刘强;王争锋;曹昆;刘锴;王涛 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;G03B43/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王凯敏
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 平行 调节 式焦面 组件 位置 标定 方法
【权利要求书】:

1.用于平行光管的可调节式焦面组件位置标定方法,所述可调节式焦面组件包括平移台(8)和设置在平移台(8)上的靶板固定装置;其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,通过标定平行光管(3)不同视场的波像差,确定平行光管(3)的焦面位置;

步骤2,利用高精度立方镜(7)、精密针孔(10)和激光器(9)构建自准直光路,其中高精度立方镜(7)固定安装在平移台(8)上,将所述平移台(8)的移动方向引出至高精度立方镜(7)一个面的法线方向;

步骤3,经步骤2调整后,将带有高精度立方镜(7)的平移台(8)的移动方向进一步调整至与平行光管(3)的光轴方向平行;

步骤4,分别在平行光管(3)的多个视场标定平移台(8)的位置;

步骤5,调整所述靶板固定装置的姿态,使得靶板(11)所在平面与平行光管(3)的焦平面平行;

步骤6,当平行光管(3)在各个视场下所测得的离焦像差最小时平移台(8)的位置一致后,调整所述靶板固定装置在平移台(8)上的位置至安装在其上的靶板(11)的中心与平行光管(3)中心视场下标准镜头(2)的光斑汇聚点重合时,可调节式焦面组件的位置标定工作完成。

2.根据权利要求1所述的用于平行光管的可调节式焦面组件位置标定方法,其特征在于:所述步骤1具体为:

1.1)搭建平行光管全视场波像差标定单元,所述平行光管全视场波像差标定单元包括沿光路方向依次设置激光干涉仪(1)、标准镜头(2)、平面反射镜(4)、小口径平面反射镜(5)和高精度测角装置(6);平面反射镜(4)可进行方位、俯仰方向的旋转;小口径平面反射镜(5)固定于平面反射镜(4)背面,其反射面朝向高精度测角装置(6);

1.2)利用平面反射镜(4)的旋转配合激光干涉仪(1)的平动,检测平行光管(3)不同视场的波像差,从而确定平行光管(3)的焦平面位置;

1.3)记录焦平面位置对应的平面反射镜(4)的旋转角度。

3.根据权利要求1所述的用于平行光管的可调节式焦面组件位置标定方法,其特征在于:所述步骤2具体为:

将高精度立方镜(7)固定安装于平移台(8)的安装台面上,激光器(9)出射准直单色光经精密针孔(10)后照射高精度立方镜(7),再经高精度立方镜(7)反射后在精密针孔(10)上形成光斑;前后移动平移台(8),并监视精密针孔(10)上的光斑位置,调整高精度立方镜(7)的位置和/或姿态,直至精密针孔(10)以外区域看不到光斑为止,此时平移台(8)移动方向已传递至高精度立方镜(7)的一个平面法线方向上。

4.根据权利要求3所述的用于平行光管的可调节式焦面组件位置标定方法,其特征在于:所述步骤3具体为:

3.1)通过激光干涉仪(1)、标准镜头(2)和平面反射镜(4)标定平行光管(3)的中心视场,再将标准镜头(2)从当前光路中移走;

3.2)将经步骤2调整后的带有高精度立方镜(7)的平移台(8)插入当前光路中,高精度立方镜(7)与激光干涉仪(1)形成自准直光路,调整平移台(8)位置,直至激光干涉仪(1)出射的平行光经高精度立方镜(7)自准后所形成干涉条纹的离焦像差最小,此时平移台(8)移动方向与平行光管(3)的光轴方向平行。

5.根据权利要求1所述的用于平行光管的可调节式焦面组件位置标定方法,其特征在于:所述步骤4具体为:

4.1)将平移台(8)上的高精度立方镜(7)及其固定工装从平移台(8)上拆卸下来,并将标准镜头(2)安装到激光干涉仪(1)的前方,再在平移台(8)的台面上安装靶板固定装置,检测平行光管(3)中心视场波像差,将离焦像差项调至最小,然后通过将靶板(11)固定在靶板固定装置上从而将靶板(11)插入光路中,前后移动平移台(8),使靶板(11)反射的自准直像经激光干涉仪(1)形成干涉条纹的离焦像差项调至最小,记录此时平移台(8)的位置;

4.2)分别在其他多个视场按前述4.1)中心视场的方法,标定并记录靶板(11)反射的自准直像经激光干涉仪形成干涉条纹的离焦像差最小时平移台(8)的位置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011156316.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top