[发明专利]一种用于测试Flash数据传输速率的方法及系统

权利要求书

1.一种用于测试Flash数据传输速率的方法，所述方法包括：

初始化Flash产品；

将Flash产品供电电源的电压分别偏置为VCCmax和VCCmin，并将Flash产品的读取频率及Flash产品所处的环境温度进行设置，读取Flash产品的部分或者整个存储阵列，输出第一测试结果；

对比第一测试结果和预设结果，确定第一测试结果与预设结果是否一致，确定Flash产品的传输速率是否满足设计指标。

2.根据权利要求1所述的方法，所述设置，读取频率设置为读取频率的最大值，所述环境温度设置为-60℃至0℃。

3.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：

将Flash产品供电电源的电压分别偏置为VCCmax和VCCmin，并将Flash产品的读取频率设置为读取频率的最大值及Flash产品所处的环境温度设置为0℃～40℃，读取Flash产品的部分或者整个存储阵列，输出第二测试结果；

对第一测试结果和第二测试结果，与预设结果对比，确定第一测试结果和第二测试结果，与预设结果是否一致，确定Flash产品的传输速率是否满足设计指标。

4.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：将Flash产品供电电源的电压分别偏置为VCCmax和VCCmin，并将Flash产品的读取频率设置为读取频率的最大值及Flash产品所处的环境温度设置为40℃～175℃，读取Flash产品的部分或者整个存储阵列，输出第三测试结果；

对第一测试结果、第二测试结果和第三测试结果，与预设结果对比，确定第一测试结果、第二测试结果和第三测试结果，与预设结果是否一致，确定Flash产品的传输速率是否满足设计指标。

5.根据权利要求1所述的方法，所述第一测试结果、第二测试结果或第三测试结果中的至少一种，与预设结果一致，确定Flash产品的传输速率满足设计指标。

6.一种用于测试Flash数据传输速率的系统，所述系统包括：

初始化模块，初始化Flash产品；

测试模块，将Flash产品供电电源的电压分别偏置为VCCmax和VCCmin，并将Flash产品的读取频率及Flash产品所处的环境温度进行设置，读取Flash产品的部分或者整个存储阵列，输出第一测试结果；

判断模块，对比第一测试结果和预设结果，确定第一测试结果与预设结果是否一致，确定Flash产品的传输速率是否满足设计指标。

7.根据权利要求6所述的系统，所述设置，读取频率设置为读取频率的最大值，所述环境温度设置为-60℃至0℃。

8.根据权利要求6所述的系统，所述测试模块还用于：

将Flash产品供电电源的电压分别偏置为VCCmax和VCCmin，并将Flash产品的读取频率设置为读取频率的最大值及Flash产品所处的环境温度设置为0℃～40℃，读取Flash产品的部分或者整个存储阵列，输出第二测试结果；

对第一测试结果和第二测试结果，与预设结果对比，确定第一测试结果和第二测试结果，与预设结果是否一致，确定Flash产品的传输速率是否满足设计指标。

9.根据权利要求6所述的系统，根据权利要求6所述的系统，所述测试模块还用于：将Flash产品供电电源的电压分别偏置为VCCmax和VCCmin，并将Flash产品的读取频率设置为读取频率的最大值及Flash产品所处的环境温度设置为40℃～175℃，读取Flash产品的部分或者整个存储阵列，输出第三测试结果；

对第一测试结果、第二测试结果和第三测试结果，与预设结果对比，确定第一测试结果、第二测试结果和第三测试结果，与预设结果是否一致，确定Flash产品的传输速率是否满足设计指标。

10.根据权利要求6所述的系统，所述第一测试结果、第二测试结果或第三测试结果中的至少一种，与预设结果一致，确定Flash产品的传输速率满足设计指标。