[发明专利]一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统有效
申请号: | 202011160909.5 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112287633B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 李琳;刘浩杰;郭东辉 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398 |
代理公司: | 厦门福贝知识产权代理事务所(普通合伙) 35235 | 代理人: | 陈远洋 |
地址: | 361000 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 面向 模拟 ic 有源 器件 对称 约束 检测 方法 系统 | ||
1.一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:根据模拟IC的网表,对所述模拟IC中的两个MOS器件之间的连接权重使用变量表示并对变量进行赋值,根据网表中两个MOS器件之间的连接状态使用所述变量进行编码,得到所述两个MOS器件之间的器件互连矢量fvi,j;
S2:为模拟IC中的每一种初层基块赋以唯一的器件互连矢量,构成初层基块查找表,利用所述步骤S1中得到的器件互连矢量fvi,j在所述初层基块查找表中进行匹配,若未匹配到与所述fvi,j相同的器件互连矢量,则所述两个MOS器件之间不存在对称约束,若匹配到与所述fvi,j相同的器件互连矢量,则判断所述器件互连矢量对应的初层基块是否能确定对称约束,若是,则输出初层基块对称约束和所述对应的初层基块,若否,则输出所述对应的初层基块;
S3:在所述步骤S2得到的初层基块中,若检测得到两个相邻的初层基块,利用所述两个相邻的初层基块的器件互连矢量求出所述两个相邻的初层基块之间的基块互连矢量HMX,Y,执行S4;若未检测得到两个相邻的初层基块,则结束所述对称约束检测方法;
S4:为模拟IC中的每一种高层基块赋以唯一的基块互连矢量构成高层基块固定编码查找表,利用所述步骤S3中求出的HMX,Y在所述高层基块固定编码查找表中进行匹配,若所述高层基块固定编码查找表中存在某一基块互连矢量的值与所述HMX,Y相等,则判断与HMX,Y对应的高层基块中存在对称约束,并输出高层基块对称约束。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S1的具体步骤为:根据模拟IC的网表,对MOS器件Mi的p端到MOS器件Mj的q端的连接权重使用变量进行表示,其中p∈{D、G、S},q∈{D、G、S},D、G和S表示MOS器件的D端、G端和S端,对每个所述变量赋以权重值,表示MOS器件Mi的p端到MOS器件Mj的q端的连接状态,当MOS器件Mi的p端到MOS器件Mj的q端存在连接时当MOS器件Mi的p端到MOS器件Mj的q端不存在连接时对MOS器件Mj的q端到MOS器件Mi的p端的连接权重使用变量进行表示,其中q∈{D、G、S},p∈{D、G、S},D、G和S表示MOS器件的D端、G端和S端,对每个所述变量赋以权重值,表示MOS器件Mj的q端到MOS器件Mi的p端的连接状态,当MOS器件Mj的q端到MOS器件Mi的p端存在连接时当MOS器件Mi的p端到MOS器件Mj的q端不存在连接时将MOS器件Mi和MOS器件Mj之间的连接关系的特征向量记为MOS器件Mi和MOS器件Mj之间的器件互连矢量,表示为
fvi,j=(VCi→j,VCj→i)
其中,VCi→j为MOS器件Mi到MOS器件Mj的矢量编码,且
VCj→i为MOS器件Mj到MOS器件Mi的矢量编码,且
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