[发明专利]自主机器人定位在审

专利信息
申请号: 202011161093.8 申请日: 2015-09-03
公开(公告)号: CN112540380A 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: M.J.哈洛伦;J.米利肯;T.皮尔斯;E.C.彼得斯 申请(专利权)人: 美国iRobot公司
主分类号: G01S17/48 分类号: G01S17/48;G01S17/36;G01S17/931;G01S13/46;G01S13/36;G01S13/931;G01S17/42;A01D34/00;A01D101/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 薛韵然
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 自主 机器人 定位
【权利要求书】:

1.一种估计环境中的割草机器人的位置的方法,所述环境具有相对于环境中的可修剪空间在已知位置处的多个合成表面,所述方法包括:

将割草机器人放置在所述环境中,所述割草机器人包括:

辐射源,其联接到所述割草机器人;

检测器,其联接到所述割草机器人,并被配置为检测由所述环境中的物体反射的辐射;

调制器,其联接到所述辐射源,并被配置为调制从所述辐射源发射的辐射;和

控制器,其被配置为可控地引导来自所述辐射源的辐射以扫描所述环境,并且根据检测到的从一个或多个合成表面反射的辐射,改变定向辐射的输出功率或定向辐射的扫描速率中的至少一个,其中所述控制器被配置为引导所述调制器响应于反射辐射的检测而改变射束聚焦;和

使用控制器可控地引导来自所述辐射源的辐射以扫描所述环境,并基于检测到的反射辐射来确定所述割草机器人的位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述控制器被配置为改变所述辐射源的扫描速率。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述控制器被配置为引导所述调制器响应于反射辐射的检测而改变所述辐射源的输出功率。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述调制器以不同于第一扫描的扫描速度的至少一部分的扫描速度扫描第二扫描的一部分。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述第二扫描的扫描速度比所述第一扫描的扫描速度慢。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述控制器在所述割草机器人的运动期间扫描所述环境。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,还包括通过旋转所述辐射源的一部分来扫描所述环境。

8.根据权利要求1所述的方法,还包括:

通过控制器将表示检测到的反射辐射的数据与存储的数据进行比较;和

基于所述比较将特定物体识别为与存储的数据相关联。

9.根据权利要求1所述的方法,还包括调制所述辐射源的输出功率。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,减小的射束聚焦对应于定向辐射的更快的自旋速率,并且增大的射束聚焦对应于定向辐射的更慢的自旋速率。

11.根据权利要求1所述的方法,其中,减小的射束聚焦对应于以更大的度数增量的定向辐射的脉冲,并且增大的射束聚焦对应于以更小的度数增量的定向辐射的脉冲。

12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述增大的射束聚焦中的脉冲的度数增量与所述减小的射束聚焦中的脉冲的度数增量之比在0.1至0.8的范围内。

13.根据权利要求1所述的方法,其中,所述控制器被配置为以相对于水平方向和竖直方向二者成一角度的角度散布所述辐射源。

14.一种估计环境中的割草机器人的位置的方法,所述环境包括相对于环境中的可修剪空间在已知位置处的多个合成表面,所述方法包括:

扫描存在于环境中的联接到割草机器人的辐射源;

由割草机器人的一个或多个检测器接收由环境中的物体反射的辐射;

根据从一个或多个合成表面反射的辐射,改变定向辐射的输出功率;

根据检测到的从一个或多个合成表面反射的辐射,改变定向辐射的扫描速率;

估计割草机器人的位置;和

根据检测到的从一个或多个合成表面反射的辐射,改变辐射源的束聚焦。

15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述辐射源是激光器。

16.根据权利要求14所述的方法,其中,采用响应于不同波长的两个或更多个检测器来检测辐射。

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