[发明专利]一种电子产品测试过程结构化描述方法有效

专利信息
申请号: 202011162746.4 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN112415301B 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 舒武静;邓乐武;莫文静;胡际东;李佳璇 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 赵凯
地址: 610092*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子产品 测试 过程 结构 描述 方法
【权利要求书】:

1.一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于,包括以下步骤:

a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;

b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合;

c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断;

所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位;

所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点;

所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成;

所述步骤a中,测试组,用于完成机载系统某一功能的检查,测试组由多个测试单元的排序组成,是对多个测试单元的执行顺序;

所述步骤a中,测试输出结果,用于设计每个测试单元或测试组的所有可能输出的结果。

2.根据权利要求1所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述故障模式包括故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。

3.根据权利要求2所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。

4.根据权利要求3所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述测试操作包括基本操作、总线操作和人机交互操作;基本操作用于非总线信号测试执行结构化描述;总线操作用于总线信号测试执行结构化描述;人机交互操作用于人机交互测试执行的结构化描述。

5.根据权利要求4所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述基本操作包括初始化操作、连接操作、读取操作、断开连接操作、重置操作、使能操作和重复操作;总线操作包括编码操作、解码操作、交换信息操作、帧操作和读取总线数据操作;人机交互操作包括输入操作和输出操作,输入操作用于测试操作中的结果输入提醒和结果接收,输出操作用于提示测试操作中人执行的动作。

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