[发明专利]显示屏点灯机及显示屏检测装置有效
申请号: | 202011164987.2 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112349229B | 公开(公告)日: | 2023-08-08 |
发明(设计)人: | 张建平;张静;王志强 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;H05K9/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曹娜 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示屏 点灯 检测 装置 | ||
本申请实施例提供了一种显示屏点灯机及显示屏检测装置。该显示屏点灯机包括主板、转接板和静电释放组件,其中,主板包括主板信号连接口且被配置为产生对待检测显示屏进行电学测试的检测信号;转接板包括转接信号连接口且被配置为将检测信号传输至待检测显示屏;静电释放组件包括信号传输结构以及静电释放结构,信号传输结构分别与主板信号连接口和显示屏绑定结构电连接以形成多个信号通道,静电释放结构与待检测显示屏并联在信号通道和接地端之间,以将待检测显示屏中的静电通过静电释放结构泄入接地端。本实施例能够对待检测显示屏的静电进行释放,从而防止静电对待检测显示屏中的器件产生破坏,以起到保护待检测显示屏的目的。
技术领域
本申请涉及静电释放技术领域,具体而言,本申请涉及一种显示屏点灯机及显示屏检测装置。
背景技术
随着时代的发展,窄边框设计深受用户喜爱,考虑到布线空间的问题,显示屏两侧栅极驱动电路中的薄膜晶体管也由边框较宽的显示屏中的双栅结构改变为单栅结构,但是由于单栅结构的薄膜晶体管抗静电的能力差,在对显示屏进行电学性能测试(Cell ET)时,检测信号的杂波及电源的选取会产生静电,当其电压大于显示屏的击穿电压时,它会通过点灯机的内部走线到Pin针传到显示屏从而击伤显示屏内部薄膜晶体管等元件而引起不良,导致产品的良率降低。
发明内容
本申请针对现有方式的缺点,提出一种显示屏点灯机及显示屏检测装置,以解决现有技术中的点灯机对显示屏进行电学性能测试时产生的静电对容易对显示屏造成损伤的问题。
第一个方面,本申请实施例提供了一种显示屏点灯机,所述显示屏点灯机包括:
主板,包括主板信号连接口且被配置为产生对待检测显示屏进行电学测试的检测信号;
转接板,包括转接信号连接口且被配置为将所述检测信号传输至所述待检测显示屏;
静电释放组件,包括信号传输结构以及静电释放结构,所述信号传输结构分别与所述主板信号连接口和所述显示屏绑定结构电连接以形成多个信号通道,所述静电释放结构与所述待检测显示屏并联在所述信号通道和接地端之间,以将所述待检测显示屏中的静电通过所述静电释放结构泄入所述接地端。
可选地,所述静电释放结构包括双向瞬态二极管,所述双向瞬态二极管的一端与所述主板信号连接口电连接,所述双向瞬态二极管的另一端接地且与所述转接信号连接口电连接。
可选地,所述信号传输结构包括第一传输结构和第二传输结构;所述静电释放结构还包括电路承载结构,所述电路承载结构上设置有接地线以形成所述接地端,设置有至少一个第一插口,所述第一插口通过所述第一传输结构与所述主板信号连接口电连接,设置有至少一个第二插口,所述第二插口通过所述第二传输结构与所述转接信号连接口电连接,以及设置有多条金属线,所述金属线分别与所述第一插口和所述第二插口电连接以与所述第一传输结构和所述第二传输结构形成所述信号通道。
可选地,所述第一插口包括n个第一引脚,所述第二插口包括n个第二引脚,与所述第一插口电连接所述双向瞬态二极管的数量为n个,每个所述双向瞬态二极管的第一端与一个所述第一引脚电连接,每个所述双向瞬态二极管的第二端与一个所述第二引脚电连接,其中,n为大于或等于2的整数,每个所述第一引脚位于一个所述信号通道;所述主板信号连接口包括n个第三引脚,所述转接信号连接口包括n个第四引脚;所述第一传输结构为第一排线,所述第二传输结构为第二排线,所述第一排线包括n个第一连接点、n个第二连接点以及分别与所述第一连接点和所述第二连接点电连接的第一信号线,所述第二排线包括n个第三连接点、n个第四连接点以及分别与所述第三连接点和所述第四连接点电连接的第二信号线;每个第一连接点与一个所述第三引脚电连接,每个所述第二连接点与一个所述第一引脚电连接,每个所述第三连接点与一个所述第二引脚电连接,每个所述第四连接点与一个所述第四引脚电连接。
可选地,每个所述双向瞬态二极管仅与一个所述信号通道电连接,每个信号通道输入的信号不同,与每个所述信号通道电连接的所述双向瞬态二极管的击穿电压不同。
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