[发明专利]基于物理原理的环境光反射模拟方法、设备和存储介质在审
申请号: | 202011165334.6 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112381915A | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 蒋冠冕 | 申请(专利权)人: | 杭州电魂网络科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T15/00 | 分类号: | G06T15/00;G06T15/04;G06T15/50 |
代理公司: | 杭州创智卓英知识产权代理事务所(普通合伙) 33324 | 代理人: | 张超 |
地址: | 310051 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 物理 原理 环境 反射 模拟 方法 设备 存储 介质 | ||
1.一种基于物理原理的环境光反射模拟方法,其特征在于,包括:
通过基于物理原理的渲染方法,预生成2D环境贴图,所述2D环境贴图包含被渲染物体的材质信息;
根据所述被渲染物体的表面粗糙度的环境光反射信息,对所述2D环境贴图进行预处理,得到预处理后的2D环境贴图;
对所述预处理后的2D环境贴图进行采样,并基于采样的数据,表达所述被渲染物体的环境光反射效果。
2.根据权利要求1所述的基于物理原理的环境光反射模拟方法,其特征在于,所述的通过基于物理原理的渲染方法,预生成2D环境贴图包括:
根据PBR渲染方法中的全局光照算法,预生成2D环境贴图。
3.根据权利要求2所述的基于物理原理的环境光反射模拟方法,其特征在于,所述的根据PBR渲染方法中的全局光照算法,预生成2D环境贴图包括:
在以当前视角的场景作为预渲染条件下,或者在以美术偏向的风格作为预渲染条件下,根据PBR渲染方法中的全局光照算法,预生成2D环境贴图。
4.根据权利要求1所述的基于物理原理的环境光反射模拟方法,其特征在于,所述被渲染物体在所述2D环境贴图中的表面粗糙度默认为0,所述的根据所述被渲染物体的表面粗糙度的环境光反射信息,对所述2D环境贴图进行预处理,得到预处理后的2D环境贴图包括:
基于物理原理,设定所述被渲染物体的表面粗糙度范围为0~1,并通过Mipmaps保存不同表面粗糙度对应的环境光反射信息;
利用所述Mipmaps对所述2D环境贴图进行预处理,得到预处理后的2D环境贴图。
5.根据权利要求1所述的基于物理原理的环境光反射模拟方法,其特征在于,所述的对所述预处理后的2D环境贴图进行采样包括:
根据视线方向和所述被渲染物体的法线方向对所述预处理后的2D环境贴图进行采样,同时对于不同的表面粗糙度,采样不同等级的多级纹理偏移量信息。
6.根据权利要求1所述的基于物理原理的环境光反射模拟方法,其特征在于,所述的对所述预处理后的2D环境贴图进行采样包括:
基于蒙特卡洛的分布统计算法对所述预处理后的2D环境贴图进行离线采样。
7.一种电子设备,包括处理器和存储有计算机程序的存储介质,其特征在于,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的基于物理原理的环境光反射模拟方法。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的基于物理原理的环境光反射模拟方法。
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