[发明专利]用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法

说明书

本发明公开了用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法，涉及数字全息显微术技术领域。该用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法包括以下步骤：启动待测光源并记录光束波长记为δ_基准、记录光束波长记为δ₁、记录光束波长记为δ₂、求得光源透射式的全偏振态测量γ，其中该用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法能够通过对数字全息显微术的方式对光波的全偏振态测量进行多方位的测量，方便人们对不同光波在不同场合下的全偏振态的数值进行较为准确的测量，并且光波的全偏振态测量的误差更低，有效的解决了全偏振态测量效率低的问题。

技术领域

本发明涉及数字全息显微术技术领域，具体为用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法。

背景技术

数字全息显微术(DHM)是提供定量地追踪透明样品中的亚纳米光学厚度改变的能力的成像技术。与其中仅捕获关于样品的强度(幅度)信息的传统数字显微术不同，DHM捕获相位和强度两者。作为全息图而捕获的相位信息可以用于使用计算机算法来重构关于样品的扩展的形态信息(诸如深度和表面特性)。现代DHM实现提供了若干附加益处，诸如快速扫描/数字采集速度、低噪声、高分辨率以及用于无标记样本采集的潜在性。

现有技术中，不能够通过数字全息显微术对透射式的光波进行全偏振态测量，使得不能够对光波通过数字全息显微术进行全偏振态测量，大幅度的降低了光波全偏振态测量的测量效率。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法，解决了上述背景技术提到的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法，该用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法包括以下步骤：

S1、启动待测光源，射出波长为ε的光束，光束在图像传感器平面上产生干涉形成全息显微图，并记下此时的光束波长，将此时的光束波长记为δ_基准，并将全息显微图上传至计算机中；

S2、启动待测光源，射出波长为ε的光束，待测光源的光束依次射入第一半波片、第一偏振分光棱镜和第二半波片，从第二半波片射出的光束射向单平面反射镜，从单平面反射镜反射出来的光束再射向二元光栅，二元光栅射出的光束通过第三半波片、第二偏振分光棱镜和第四半波片，此时第四半波片射出的光束在图像传感器平面上产生干涉形成全息显微图，并记下此时的光束波长，将此时的光束波长记为δ₁，并将全息显微图上传至计算机中；

S3、关闭S2中的待测光源，将S2中第一半波片和第一偏振分光棱镜的位置进行调换，后面光束经过的过程与S2中相同，开启待测光源，然后将第四半波片射出的光束在图像传感器平面上产生干涉形成全息显微图，并记下此时的光束波长，将此时的光束波长记为δ₂，并将全息显微图上传至计算机中；

S4、关闭S2中的待测光源，将S2中第三半波片和第二偏振分光棱镜的位置进行调换，然后开启待测光源，然后将第四半波片射出的光束在图像传感器平面上产生干涉形成全息显微图，并记下此时的光束波长，将此时的光束波长记为δ₃，并将全息显微图上传至计算机中；

S4、对上述数据进行校验审核，求得光源透射式的全偏振态测量γ，其中

S5、重复五次实验，并对五次实验进行数据整理，最终取得γ的平均值作为最终的实验结果。

优选的，待测光源射出的光束为平行光束，且测试的环境为密闭空间，无其他杂质对光束进行影响。