[发明专利]一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔

说明书

本发明公开了一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔，包括耦合套筒，所述耦合套筒设置四个光路进行光纤传输，四个光路交汇在一点，该点设置样品。本发明密封性好，兼容性高，通过光纤与其他仪器集成，可放置再电磁铁中固定待测样品，具有电激发和光激发双重功能。

技术领域

本发明涉及光电磁器件检测领域，具体涉及一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔。

背景技术

磁场效应是指外磁场可以改变非磁性材料的本征特性，定义为材料特性被外磁场改变的值与无磁场时本征值的比值，通常用百分比来表示。测量时需要将样品放置在电磁铁中，测试材料的发光和电流磁场效应。首先，发光磁场效应需要封闭光路，这样才能降低环境光的干扰获得准确的测试结果；其次，电学测量需要屏蔽环境电磁干扰，具有非磁性导线及引线；最后，整个测试需要样品置于磁场环境中，样品架须要非磁性设计。总之，整个样品腔需要封闭光路、屏蔽电磁干扰和非磁性材质，同时满足光学、电学和光电转换测试要求。

此外，有机材料和薄膜样品是附着在衬底上的样品，对样品腔和样品架有特殊的要求。首先，电学测量需要设计特殊的探针与样品接触，并采用非磁性材质固定样品；其次，光学测量要满足发射和透射两种测量模式。针对以上需求，我们设计了一种用于磁场效应测试的非磁性样品腔。

发明内容

为了克服现有技术存在的缺点与不足，本发明提供一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔，主要针对有机薄膜材料与器件磁场效应测量，用于固定样品和耦合外光路。

本发明采用如下技术方案：

一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔,设置在两块磁铁之间，包括耦合套筒，所述耦合套筒设置四个光路进行光纤传输，四个光路交汇在一点，该点设置样品。

进一步，四个光路呈平放的K字形，呈直线排列的两个光路实现透射测试，另外两个呈夹角的光路实现发射测试。

进一步，所述耦合套筒呈圆柱形。

进一步，所述非磁性样品腔由非磁性材料制成。

进一步，两个呈夹角的光路的夹角在15-60度之间。

进一步，四个光路的光学孔尺寸与光纤匹配，直径在2mm和11mm之间。

本发明的有益效果：

(1)非磁性样品腔采用非磁性材料，光学密封，排除环境光干扰；

(2)本发明设置四路光纤耦合光路，通过光纤与其他仪器集成，避免激发光对发射强度的影响。

(3)四个光路根据测试，任意组合实现发射及透射测试需求。

附图说明

图1是本发明的样品腔主视图；

图2是图1的实物示意图。

图3是本发明实施例样品腔工作设置图。

具体实施方式

下面结合实施例及附图，对本发明作进一步地详细说明，但本发明的实施方式不限于此。

实施例

如图1及图2所示，一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔,由非磁性材料制成，主要作用是固定和密封光路，同时和外光路耦合，实现测试要求。

具体包括耦合套筒1，所述耦合套筒设置四个光学孔2，形成四个光路，四个光路呈平方的K字型，四个光路在套筒内交汇在一点，垂直中心线之间，该点是样品所在的位置。

在K字型中，上下呈一条直线排列的两个光路可以满足透射测试需求，另外两个呈一定夹角的光路可满足发射测试，激发光和发射光分别从两个光路射入，呈一定角度，可以避免激发光对发射强度的影响。