[发明专利]一种基于涡旋光的转速测量系统及方法有效
申请号: | 202011171177.X | 申请日: | 2020-10-28 |
公开(公告)号: | CN112362892B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
发明(设计)人: | 马喆;杨静琦;周洁;姜来 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第二研究院 |
主分类号: | G01P3/36 | 分类号: | G01P3/36 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 张国虹 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 涡旋 转速 测量 系统 方法 | ||
1.一种基于涡旋光的转速测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S10:生成探测光和本振光,将所述探测光调制为含有轨道角动量叠加态的涡旋光,通过发射接收模块将所述涡旋光照射至待测物体;
步骤S20:接收所述待测物体的反射光,对所述本振光和所述反射光进行合束,得到合束光;
步骤S30:对所述合束光进行光电转换,提取电信号中的频移信息,根据所述频移信息计算所述待测物体的旋转速度;
采用具有两个相反拓扑荷数±l叠加形式的涡旋光作为探测光垂直照射旋转速度为Ω、平移速度为v的物体,设光速为c,光频为f0;
物体引起两个叠加态涡旋光的频移分别为:
和
采用本振光与探测回光进行拍频时,合成后的光强表达式为:
式中IVB为探测回光光强,ILO为本振光光强,k为波数,在波传播方向上单位长度内的波周期数目成为波数;
当探测回光较弱,即IVB小于ILO时,上述表达式简化为:
通过滤波去掉直流分量,保留交变分量;
当物体转动速度远小于平移速度,平移引起的频移在MHz量级,而转动引起的频移在kHz量级,强度信号在时域上呈现高频信号的慢变调制规律,通过滤波信号处理方式,实现对低频信号ΔfL的提取,通过以下公式计算得到物体转动速度:
当出现物体转动引起的频移与平移引起的频移量级相当时,对时域信号进行傅里叶变换,在频域谱上得到两个频率峰值,分别为和通过以下公式计算出物体旋转速度:
2.根据权利要求1所述的基于涡旋光的转速测量方法,其特征在于,在所述接收所述待测物体的反射光之后,对所述本振光和所述反射光进行合束,得到合束光之前,还包括以下步骤:
步骤S21:对所述反射光和所述涡旋光进行分离。
3.根据权利要求1所述的基于涡旋光的转速测量方法,其特征在于,对所述合束光进行光电转换之后,所述提取电信号中的频移信息,根据所述频移信息计算所述待测物体的旋转速度之前,还包括以下步骤:
对接收到的电信号进行降噪和滤波处理。
4.根据权利要求1所述的基于涡旋光的转速测量方法,其特征在于,在所述接收所述待测物体的反射光,对所述本振光和所述反射光进行合束,得到合束光之后;所述对所述合束光进行光电转换,提取电信号中的频移信息,根据所述频移信息计算所述待测物体的旋转速度之前,还包括以下步骤:
对所述合束光进行整形。
5.一种用于实现权利要求1至4任一项中基于涡旋光的转速测量方法的测量系统,其特征在于,包括:检测光生成装置、发射接收装置、探测器以及信号处理器;
所述检测光生成装置,生成探测光和本振光,将所述探测光调制为含有轨道角动量叠加态的涡旋光,将所述涡旋光照射至所述发射接收装置;
所述发射接收装置,对所述涡旋光进行扩束准直,并照射至待测物体,接收所述待测物体的反射光,将所述反射光照射至所述检测光生成装置;
所述检测光生成装置,对所述反射光和所述本振光进行合束,将合束光照射至所述探测器;
所述探测器,将所述合束光的光信号转换为电信号;
所述信号处理器,根据提取的所述电信号中的频移信息,计算所述待测物体的旋转速度;
所述检测光生成装置包括激光生成器、相位调制器、第一分光镜和第二分光镜;
所述激光生成器,生成检测光和本振光,将所述检测光发送至所述相位调制器,将所述本振光发送至所述第二分光镜;
所述相位调制器,对所述检测光进行调制,生成含有轨道角动量的叠加态的涡旋光,所述涡旋光透过所述第一分光镜,照射至所述发射接收装置;
所述第一分光镜,将接收到的反射光反射至所述第二分光镜;
所述第二分光镜,对所述反射光和所述本振光进行合束,将合束光照射至所述探测器。
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