[发明专利]一种用于纺织布料瑕疵的高动态成像检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202011172594.6 申请日: 2020-10-28
公开(公告)号: CN112213330A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 苟洁 申请(专利权)人: 巴中职业技术学院
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;H04N5/235
代理公司: 成都市鼎宏恒业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51248 代理人: 谢敏
地址: 636000 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 纺织 布料 瑕疵 动态 成像 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于纺织布料瑕疵的高动态成像检测方法,其特征在于:包括机械拉布及净布模块(1)、图像采集模块(2)、数据处理及成像模块(3)、瑕疵图像数据库模块(4)、在线对比及记录模块(5)、瑕疵标记模块(6)和控制模块(7),其中:所述控制模块(7)的中央处理器对其余各模块按照以下步骤依次控制并协调工作,完成高动态成像、布料瑕疵点对比检测和瑕疵点机械标记;

S1、所述机械拉布及净布模块(1):通过拉布机将纺织布料卷平铺,并且在布料传送过程中由静电去除和清扫设备对布料表面杂质进行清理,得到表面洁净的布料;

S2、所述图像采集模块(2):通过光学摄像头采集表面洁净布料的图像,并形成和向下级输出图像数字信号;

S3、所述数据处理及成像模块(3):接受数字信号后进行数据处理,结合高动态图像合成算法形成高动态图像,并形成和向上下级输出高动态图像;

S4、所述瑕疵图像数据库模块(4):接收到纺织布料的高动态图像后,调出数据库内相应纺织布料类型的瑕疵图像;

S5、所述在线对比及记录模块(5):对所检测的纺织布料结合瑕疵图像进行对比,并在线记录和存储所检测纺织布料瑕疵点的类型和位置;

S6、所述瑕疵标记模块(6):对于检测出的纺织布料瑕疵点通过可擦拭或可洗颜色进行机械标记。

2.根据权利要求1所述的一种用于纺织布料瑕疵的高动态成像检测方法,其特征在于:所述图像采集模块(2)由CMOS图像传感器(22)和常规镜头(21)组成光学摄像头。

3.根据权利要求2所述的一种用于纺织布料瑕疵的高动态成像检测方法,其特征在于:所述数据处理及成像模块(3)由图像处理器(31)、SDRAM控制器(32)、NiosⅡ软核处理器(33)、传感器配置器(34)、SDRAM 0(35)、SDRAM 1(36)、VGA显示器(37)、PIO(38)、网络传输接口(39)和SOPC高动态成像系统(40),其中:

所述图像处理器(31)、所述SDRAM控制器(32)和所述传感器配置器(34)形成FPGA控制逻辑电路(8),所述FPGA控制逻辑电路(8)内嵌入NiosⅡ软核处理器(33),并按照下述步骤工作,所述CMOS图像传感器(22)配合常规镜头(21)进行图像采集,获得的集数据传送至所述图像处理器(31),所述图像处理器(31)进行处理后得到数字信号,将数字信号传送给所述SDRAM控制器(32),所述SDRAM控制器(32)将数字信号传送给所述NiosⅡ软核处理器(33);

另外所述SDRAM控制器(32)与所述SDRAM 0(35)和所述VGA显示器(37)耦合,用于储存和传输数字信号;

所述NiosⅡ软核处理器(33)与所述SDRAM 1(36)、所述PIO(38)、所述网络传输接口(39)和SOPC高动态成像系统(40)耦合,用于远程传输、储存、进行高动态成像处理和在线观看高动态图像。

4.根据权利要求3所述的一种用于纺织布料瑕疵的高动态成像检测方法,其特征在于:所述数据处理及成像模块(3)的所述图像处理器(31)由集中在所述CMOS图像传感器(22)内部的周边处理电路(221)、片外控制器和ISP图像信号处理器组成,片外控制器和ISP图像信号处理器集中在同一芯片中。

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