[发明专利]一种测量小孔径的数显塞尺及其工作方法在审

专利信息
申请号: 202011174283.3 申请日: 2020-10-28
公开(公告)号: CN112240731A 公开(公告)日: 2021-01-19
发明(设计)人: 任宁博;石伟栋;刘响亮;韩学文;刘朝;曹剑峰;郭通;文作伟 申请(专利权)人: 西安热工研究院有限公司;华能秦煤瑞金发电有限责任公司
主分类号: G01B3/46 分类号: G01B3/46;G01B5/12;G01B7/02
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 马贵香
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 孔径 塞尺 及其 工作 方法
【权利要求书】:

1.一种测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,包括塞尺本体,塞尺本体包括主尺(1)、游标(2)、半锥形塞尺(5)和定位块(6);游标(2)滑动安装在主尺(1)上,游标(2)的一端与定位块(6)固定连接,主尺(1)的一端与半锥形塞尺(5)的底面固定连接,半锥形塞尺(5)的竖切面与定位块(6)的侧面紧贴;当主尺(1)与游标(2)收紧时,半锥形塞尺(5)的顶点与定位块(6)的端部对齐;

游标(2)内部设有容栅传感器(3)、处理器(7)和数据处理模块(8),游标(2)上设有数显屏幕(4);容栅传感器(3)与数据处理模块(8)连接,处理器(7)分别与数显屏幕(4)和数据处理模块(8)连接。

2.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,数据处理模块(8)包括放大模块和A/D转换模块,容栅传感器(3)与放大模块连接,放大模块与A/D转换模块连接,A/D转换模块与数据处理模块(8)连接。

3.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,半锥形塞尺(5)的底面半径与高之比为1:10。

4.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,定位块(6)端部为矩形,定位块(6)的宽度与半锥形塞尺(5)的底面直径相等,定位块(6)的高度与半锥形塞尺(5)的底面半径相等。

5.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,半锥形塞尺(5)的高度与定位块(6)的长度相等。

6.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,定位块(6)的端面设有防滑层。

7.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,塞尺本体上设有若干扩展端口,扩展端口能够连接外部设备。

8.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,处理器(7)连接有电源模块(11),电源模块(11)为扣式电池或内置式充电电池。

9.根据权利要求1所述的测量小孔径的数显塞尺,其特征在于,数显屏幕(4)连接有背光装置,背光装置与处理器(7)连接。

10.根据权利要求1~9任意一项所述测量小孔径的数显塞尺的工作方法,其特征在于,包括:

主尺(1)与游标(2)收紧进行数据归零,定位块(6)的端面顶紧待测小孔外部的平面,移动主尺(1),使半锥形塞尺(5)进入待测小孔中,直至半锥形塞尺(5)不能再继续进入;容栅传感器(3)将游标(2)的位移量数据传输至数据处理模块(8),经数据处理模块(8)处理后传输至处理器(7),处理器(7)根据半锥形塞尺(5)的底面半径与高的比例值,计算得出待测小孔的半径数值后显示在数显屏幕(4)上。

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