[发明专利]一种星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法在审

专利信息
申请号: 202011174677.9 申请日: 2020-10-28
公开(公告)号: CN112345850A 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 董克松;谢鑫新;李雪;孟婉婷;何嘉恺;李恩晨;王平凯;张软玉 申请(专利权)人: 上海航天测控通信研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01S7/40
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 微波 成像 灵敏度 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1:获取所述星载微波成像仪的热源观测数据,所述热源观测数据包括所述星载微波成像仪的增益数据和热定标源观测电压,所述增益数据与所述热定标源观测电压一一对应;

S2:基于正态分布的3σ准则对所述增益数据和所述热定标源观测电压分别进行质量控制,得到增益优化数据和热定标源观测优化电压;

S3:基于所述增益优化数据和所述热定标源观测优化电压进行Allan标准差计算,得到星载微波成像仪的在轨灵敏度。

2.根据权利要求1所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述步骤S2中,所述基于正态分布的3σ准则对所述增益数据进行质量控制进一步包括以下步骤:

A1:基于所述增益数据计算得到增益均值和增益标准差;

A2:根据所述增益均值和所述增益标准差,基于正态分布的3σ准则更新所述增益数据,得到所述增益优化数据。

3.根据权利要求2所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述增益均值的计算公式为所述增益标准差的计算公式为其中,为所述增益均值,n为所述增益数据的数据量,σG为所述增益标准差,Gi为所述增益数据。

4.根据权利要求3所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述步骤A2中,所述根据所述增益均值和所述增益标准差更新所述增益数据进一步包括:

若所述增益数据满足或则令

否则所述增益数据Gi保持不变。

5.根据权利要求1所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述步骤S2中,所述基于正态分布的3σ准则对所述热定标源观测电压进行质量控制进一步包括以下步骤:

B1:基于所述热定标源观测电压计算得到电压均值和电压标准差;

B2:根据所述电压均值和所述电压标准差,基于正态分布的3σ准则更新所述热定标源观测电压,得到所述热定标源观测优化电压。

6.根据权利要求5所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述电压均值的计算公式为所述电压标准差的计算公式为其中,为所述电压均值,m为所述热定标源观测电压的数据量,σV为所述电压标准差,为所述热定标源观测电压。

7.根据权利要求6所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述步骤B2中所述根据所述电压均值和所述电压标准差更新所述热定标源观测电压进一步包括:

若所述热定标源观测电压满足或则令

否则所述热定标源观测电压保持不变。

8.根据权利要求1至7任意一项所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述步骤S3中Allan标准差计算的计算公式为,

其中,NEDT为灵敏度,yi为分组后的所述热源观测数据,M为分组间隔,N为每组所述热源观测数据的数据量,其中,

9.根据权利要求8所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述步骤S1之前进一步包括以下步骤,通过计算确定所述分组间隔M和每组所述热源观测数据的数据量N的取值。

10.根据权利要求9所述的星载微波成像仪在轨灵敏度确定方法,其特征在于,所述步骤S2与所述步骤S3之间还进一步包括:基于所述分组间隔M和每组所述热源观测数据的数据量N的取值对所述增益优化数据和所述热定标源观测优化电压进行分组。

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