[发明专利]一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法有效
申请号: | 202011175922.8 | 申请日: | 2020-10-28 |
公开(公告)号: | CN112378348B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 李晨;张旭;赵欢;丁汉 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G01B21/04;G06T5/00;G06T5/10 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 石梦雅;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 针对 质量 条纹 图像 相位 校正 方法 | ||
本发明属于光学测量领域,并具体公开了一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法。该方法包括:投射相移条纹图像,拍摄并解码获得初始相位;将初始相位投影到图像亮度空间,根据其获得当前迭代周期的相位投影条纹图像;对其进行高斯滤波获得当前迭代周期的高斯滤波相位;判断当前迭代周期的高斯滤波相位与上一迭代周期的高斯滤波相位的误差是否小于或等于预设阈值,若是,则将其输出;若否,则将其投影到图像亮度空间以进行迭代。本发明将相位投影到图像亮度空间,以得到均匀反射率下的条纹图像,且抑制了高斯噪声的影响,针对该条纹图像进行迭代滤波将消除物体表面反射率和光源非线性亮度的影响,从而实现低质量条纹图像的高精度相位恢复。
技术领域
本发明属于光学测量相关技术领域,更具体地,涉及一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法。
背景技术
光学三维测量方法,例如结构光和相位偏折术,在现代制造业中扮演者越来越重要的角色。其中,相移技术是连接被测物体和传感器的桥梁。相位恢复的精度直接决定光学测量方法的测量精度。一般来说影响相位恢复精度的因素主要有三个方面:1,获取相移条纹图像的质量;2,相移步数;3,亮度调制度参数。其中,随着相移步数的增大,所需要投射相移图像的数量也越多,测量速度则随之降低。亮度调制度参数一般与系统参数配置和被测物体的表面反射率相关。因此提高低质量条纹图像恢复的相位精度已成为光学三维测量方法的关键技术。
影响条纹图像质量的因素主要有三个方面:1,图像噪声;2,光源非线性;3,被测物体表面反射率。图像噪声一般通过滤波方法来滤除,例如通过高斯滤波,中值滤波,小波变换滤波,Savitzky-Golay滤波等方法。光源非线性参数一般通过标定光源gamma值来对条纹图像非线性误差进行校正。表面反射率变化较大的物体的三维测量一般是通过高动态范围技术和偏振成像技术来解决的。
但是,影响条纹图像质量的因素是综合性的,不是孤立存在的,也就是说影响条纹图像质量的三个因素会同时存在。因此,针对反射率变化较大的物体的条纹图像进行滤波时,会受到表面反射率的影响而导致失真。并且高动态范围成像技术的一个显著缺陷是投射图片数量较大,因而导致测量速度降低。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法,其中该方法将相位投影到图像亮度空间,以得到均匀反射率下的条纹图像,且保留了高斯噪声的性质,因此针对该条纹图像进行迭代滤波将消除物体表面反射率和光源非线性亮度的影响,从而实现低质量条纹图像的高精度相位恢复。
为实现上述目的,本发明提出了一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法,该方法包括如下步骤:
S1设定光源的参数值,然后通过该参数值生成需要投射的相移条纹图像并由该光源进行投射;
S2对步骤S1中投射的相移条纹图像进行拍摄获得原始拍摄图像,然后对该原始拍摄图像进行解码,以此获得初始相位φc;
S3将步骤S2获得的初始相位φc投影到图像亮度空间,根据其获得当前迭代周期的相位投影条纹图像其中i为迭代周期;
S4对步骤S3获得的当前迭代周期的相位投影条纹图像进行高斯滤波,得到当前迭代周期的滤波投影条纹图像并根据其获得当前迭代周期的高斯滤波相位Fφc(i);
S5判断所述当前迭代周期的高斯滤波相位Fφc(i)与上一迭代周期的高斯滤波相位Fφc(i-1)是否小于或等于预设阈值,若是,则将当前迭代周期的高斯滤波相位Fφc(i)输出;若否,则转入步骤S6;
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