[发明专利]特征提取方法、装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 202011176076.1 申请日: 2020-10-28
公开(公告)号: CN112418243A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 庄月清;李伯勋;张弛 申请(专利权)人: 北京迈格威科技有限公司
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46;G06N3/04
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 何少岩
地址: 100090 北京市海淀区科*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 特征 提取 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种特征提取方法,其特征在于,包括:

获取待提取特征的目标图像;

获取所述目标图像对应的掩膜图像;其中,所述掩膜图像与所述目标图像中的感兴趣区域对应;

将所述目标图像和所述掩膜图像输入至特征提取网络,通过所述特征提取网络基于所述掩膜图像对所述目标图像进行特征提取。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述特征提取网络包括多个依次连接的卷积层;

所述通过所述特征提取网络基于所述掩膜图像对所述目标图像进行特征提取的步骤,包括:

对于所述特征提取网络中的每个所述卷积层,确定该卷积层对应的输入特征图,并通过该卷积层对其输入特征图进行特征提取,得到该卷积层对应的输出特征图;其中,所述特征提取网络中第一卷积层对应的输入特征图与所述目标图像和所述掩膜图像相关,所述特征提取网络中第二卷积层对应的输入特征图与前一卷积层的输出特征图和所述掩膜图像相关;

根据所述特征提取网络的输出特征图确定所述目标图像中感兴趣区域的特征。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定该卷积层对应的输入特征图的步骤,包括:

当该卷积层为所述第一卷积层时,将所述目标图像与所述掩膜图像进行按位相乘,得到该第一卷积层对应的输入特征图;

当该卷积层为所述第二卷积层,将该第二卷积层的前一卷积层的输出特征图与所述掩膜图像进行按位相乘,得到该第二卷积层对应的输入特征图。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述感兴趣区域中包括至少一个目标对象;所述根据所述特征提取网络的输出特征图确定所述目标图像中感兴趣区域的特征的步骤,包括:

确定所述目标图像中各个所述目标对象的目标特征点;

获取所述特征提取网络的输出特征图中各个所述目标对象的目标特征点对应的特征;

将各个所述目标对象的目标特征点对应的特征均确定为所述目标图像中感兴趣区域的特征。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取所述特征提取网络的输出特征图中各个所述目标对象的目标特征点对应的特征的步骤,包括:

对于每个所述目标对象的目标特征点,将所述特征提取网络的输出特征图与该目标对象的目标特征点进行按位相乘,得到该目标对象的目标特征点对应的特征。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标图像中各个所述目标对象的目标特征点的步骤,包括:

对所述目标图像进行对象检测,得到所述目标图像中的各个所述目标对象;

对于每个所述目标对象,确定该目标对象的目标特征点。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述目标图像对应的掩膜图像的步骤,包括:

根据所述目标图像的尺寸建立初始图像;其中,所述初始图像中的像素为第一数值;

确定所述目标图像中的感兴趣区域;

将所述初始图像中与所述目标图像的感兴趣区域对应的区域内的像素从所述第一数值调整为第二数值,得到所述目标图像对应的掩膜图像。

8.一种特征提取装置,其特征在于,包括:

目标图像获取模块,用于获取待提取特征的目标图像;

掩膜图像获取模块,用于获取所述目标图像对应的掩膜图像;其中,所述掩膜图像与所述目标图像中感兴趣区域对应;

特征提取模块,用于将所述目标图像和所述掩膜图像输入至特征提取网络,通过所述特征提取网络基于所述掩膜图像对所述目标图像进行特征提取。

9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器;

所述存储器上存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述处理器运行时执行如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器运行时执行上述权利要求1至7任一项所述的方法的步骤。

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