[发明专利]密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和方法有效

专利信息
申请号: 202011179705.6 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112326697B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 李德才;陈诺 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 刘虎
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 密封 间隙 磁性 液体 分布 状态 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统,所述密封间隙设在密封装置内,所述密封间隙内适于填充有磁性液体,所述密封装置具有沿其长度方向的中心线,其特征在于,所述检测系统包括:

工作台,所述密封装置绕其中心线可转动地设在所述工作台上;

轨道,所述轨道设在所述工作台上,所述轨道包括第一轨道和第二轨道,所述第一轨道的圆心和所述第二轨道的圆心重合,且所述轨道的至少部分为圆弧形,所述轨道的圆弧部分所在的圆心位于所述密封装置的中心线上;

检测组件,所述检测组件可移动地设在所述轨道上且包括X射线仪、成像仪、第一升降件和第二升降件,所述X射线仪和所述成像仪可绕所述密封装置的中心线进行旋转,所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧,所述成像仪通过所述第二升降件可升降地设在所述第一轨道上,所述X射线仪通过所述第一升降件可升降地设在所述第二轨道上,所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像,所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面;

所述X射线仪包括X射线源和准直器,所述X射线源、所述准直器和所述密封装置沿所述第一方向依次布置,所述准直器接收所述X射线源发射的沿不同方向延伸的X光并将沿不同方向延伸的X光约束为沿所述第一方向延伸的X光,以便沿所述第一方向延伸的X光可穿过所述密封间隙;

所述成像仪包括X光滤线器和成像板,所述X光滤线器设在所述密封装置的右侧,所述X光滤线器的左侧面垂直于左右方向,只有垂直于所述X光滤线器的左侧面射入的X光才能够从所述X光滤线器的右侧面射出,所述成像板的左侧面垂直于左右方向,沿左右方向延伸的X光依次穿过所述密封间隙和所述X光滤线器后在所述成像板上成像。

2.根据权利要求1所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统,其特征在于,还包括数据处理器,所述数据处理器和所述成像仪相连,所述成像仪将其获得的图像数据传输到所述数据处理器,所述数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。

3.一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法,使用权利要求1所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统,所述密封间隙设在密封装置内,所述密封间隙内适于填充有磁性液体,所述密封装置具有沿其长度方向的中心线,其特征在于,所述检测方法包括:

将所述密封装置绕其中心线可转动地设在工作台上;

将轨道设在所述工作台上,所述轨道的至少部分为圆弧形,所述轨道的圆弧部分所在的圆心位于所述密封装置的中心线上;

将X射线仪和成像仪可移动地设在所述轨道上,且所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧,所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面,启动所述X射线仪和所述成像仪,所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像,得到图像数据;

通过数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。

4.根据权利要求3所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法,其特征在于,所述X射线仪沿所述密封装置的长度方向可移动地设在所述工作台上,所述X射线仪相对于所述密封装置在第一位置和第二位置之间可移动,所述密封间隙位于所述第一位置和所述第二位置之间。

5.根据权利要求4所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法,其特征在于,在将所述密封装置绕其中心线可转动地设在工作台上之前,所述密封装置静止设置,启动所述X射线仪和所述成像仪,所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像,得到初始数据,通过所述数据处理器对所述初始数据进行处理并输出处理结果。

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