[发明专利]低频干扰信号检测方法、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.低频干扰信号检测方法，其特征在于，包括：

获取采样信号；

根据所述采样信号，建立低频干扰信号的拟合点；

根据所述拟合点，建立低频干扰信号的数学模型；

建立误差模型，通过区间倍数缩减法计算指定频率区间内误差模型值最小时的拟合参数；

根据所述拟合参数和所述数学模型，计算低频干扰信号。

2.根据权利要求1所述的低频干扰信号检测方法，其特征在于，所述根据采样信号，建立低频干扰信号的拟合点，包括：

获取距离采样零点的时间参数t_i和对应的信号幅值x_i；

建立低频干扰信号的拟合点(t_i，x_i)。

3.根据权利要求2所述的低频干扰信号检测方法，其特征在于，所述获取距离采样零点的时间参数t_i和对应的信号幅值x_i，包括：

获取第i个采样周期内的信号幅值的最大值x^max_i和最小值x^min_i，i＝1，2，…，n；

获取x^max_i、x^min_i对应的时间参数t^max_i、t^min_i，则

t_i＝(t^max_i+t^min_i)/2 (1)

x_i＝(x^max_i+x^min_i)/2 (2)。

4.根据权利要求2所述的低频干扰信号检测方法，其特征在于，所述低频干扰信号的数学模型为：

x_i＝A*sin(ω*t_i)+B*cos(ω*t_i)+C (3)

其中，A、B、C为拟合参数，ω为角速度。

5.根据权利要求4所述的低频干扰信号检测方法，其特征在于，所述建立误差模型，通过区间倍数缩减法计算指定频率区间内误差模型值最小时的拟合参数，包括：

建立误差模型：

其中，ε_c为拟合误差，ω_c为指定角速度；

令

δ(ε_c，A)＝0 (5)

δ(ε_c，B)＝0 (6)

δ(ε_c，C)＝0 (7)

其中，δ(ε_c，A)表示拟合误差ε_c对拟合参数A的偏导数，δ(ε_c，B)表示拟合误差ε_c对拟合参数B的偏导数，δ(ε_c，C)表示拟合误差ε_c对拟合参数C的偏导数；

联立公式(5)至(7)，得到一个线性方程组，求解此线性方程组，获得指定角速度ω_c对应的拟合参数A、B、C，代入公式(4)，计算拟合误差ε_c；

通过区间倍数缩减法计算指定频率区间内拟合误差ε_c最小时的拟合参数A'、B'、C'。