[发明专利]一种轮毂轴承轴向游隙测量机及其测量方法在审

专利信息
申请号: 202011182350.6 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112284322A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 江顺;林艳丽;赵勇;万宏杰;闵伍保;王卫滨;汪伟峰 申请(专利权)人: 江铃汽车股份有限公司
主分类号: G01B21/16 分类号: G01B21/16
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 彭琰
地址: 330001 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 轮毂 轴承 轴向 游隙 测量 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种轮毂轴承轴向游隙测量机,包括上测量组件、工作台、下测量组件和底座,所述工作台设置在所述底座的上部,在所述工作台上设置有定位座、压紧组件和位移传感器,所述上测量组件和所述位移传感器设置在所述工作台上方,下测量组件设置在所述底座的内部,所述定位座设置在所述上测量组件和所述下测量组件之间,待测轮毂轴承放置在所述定位座内部,其特征在于:

所述上测量组件包括第一工作气缸和第一驱动电机,所述第一工作气缸的输出端设置有第一活塞杆,在所述第一活塞杆的输出端设置有第一压头,所述第一压头与所述待测轮毂轴承的上内圈相连接,所述第一驱动电机与所述第一压头传动连接,用于带动所述第一压头转动;

所述下测量组件包括第二工作气缸和第二驱动电机,所述第二工作气缸的输出端设置有第二活塞杆,在所述第二活塞杆的输出端设置有第二压头,所述第二压头与所述待测轮毂轴承的下内圈相连接,所述第二驱动电机与所述第二压头传动连接,用于带动所述第二压头转动;

所述轮毂轴承轴向游隙测量机还包括压紧组件,所述压紧组件用于将所述待测轮毂轴承的外圈压紧;

所述位移传感器与所述第二活塞杆连接,用于获取所述待测轮毂轴承内圈的轴向位移量。

2.根据权利要求1所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

所述压紧组件包括压紧气缸和压紧板,所述压紧气缸设置在所述工作台的上表面,所述压紧板设置在所述压紧气缸的输出端,所述压紧板抵接在所述待测轮毂轴承的外圈上。

3.根据权利要求2所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

所述压紧气缸和所述压紧板的数量均为两个,两个压紧气缸和两个压紧板一一对应地设置,两个压紧气缸分别设置在定位座的左右两侧。

4.根据权利要求1所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

所述轮毂轴承轴向游隙测量机还包括第一连接板,所述第一连接板位于所述工作台的上方,在所述第一连接板和所述工作台之间设置有支撑柱,所述第一工作气缸设置在所述第一连接板的上表面。

5.根据权利要求4所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

所述轮毂轴承轴向游隙测量机还包括第二连接板,所述第二连接板位于所述第一连接板和所述工作台之间,所述第一驱动电机设置在所述第二连接板上,所述第一活塞杆与所述第二连接板的上表面连接,所述第一压头与所述第二连接板的下表面连接,在所述第一活塞杆和所述第一驱动电机之间设置有导向杆,在所述第一连接板上设有供所述导向杆穿过的通孔。

6.根据权利要求5所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

在所述第一驱动电机的输出端设置有第一传动带,所述第一传动带与所述第一压头相连接,在所述第一传动带上设置有第一张紧轮,所述第一张紧轮用于张紧所述第一传动带。

7.根据权利要求6所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

在所述第二驱动电机的输出端设置有第二传动带,所述第二传动带与所述第二压头相连接,在所述第二传动带上设置有第二张紧轮,所述第二张紧轮用于张紧所述第二传动带。

8.根据权利要求1至7任一项所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

所述轮毂轴承轴向游隙测量机还包括杠杆机构,所述杠杆机构包括杠杆座和杠杆,所述杠杆的一端与所述位移传感器相连,所述杠杆的另一端与所述第二活塞杆相连,所述杠杆座设置在所述工作台的下表面,所述杠杆的中部与所述杠杆座相铰接。

9.根据权利要求1至7任一项所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于:

在所述第一工作气缸的顶部设置有电子显示屏。

10.一种轮毂轴承轴向游隙测量机的测量方法,应用于如权利要求1所述的轮毂轴承轴向游隙测量机,其特征在于,所述测量方法包括如下步骤:

将所述待测轮毂轴承放置在所述定位座内;

启动压紧组件,压紧所述待测轮毂轴承的外圈;

启动所述第二驱动电机和所述第二工作气缸,当启动时间达到第一预设时间后,关闭所述第二驱动电机,获取所述位移传感器的第一位移量;

启动所述第一驱动电机和所述第一工作气缸,所述第一工作气缸的压力为所述第二工作气缸压力的两倍,当启动时间达到第二预设时间后,关闭所述第二驱动电机,获取所述位移传感器的第二位移量;

获取轴向游隙值,所述轴向游隙值为所述第一位移量和所述第二位移量的差值。

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