[发明专利]基于无射频测试座测试射频信号的内嵌调谐电路板探针

说明书

本发明为基于无射频测试座测试射频信号的内嵌调谐电路板探针，应用于无射频测试座的测试系统；包括调谐组件，调谐组件电连接有信号针，信号针和待测试主板的天线匹配电路连接，调谐组件还设置连接端口，连接端口用于连接射频测试电缆和调谐组件的控制线，通过射频测试电缆与外界的测试仪表连接，调谐组件的控制线用于接收控制信号，使调谐组件与天线匹配电路进行阻抗匹配；达到了免去射频测试座的目的；将调谐组件嵌入在射频测试针内，将信号针和连接端口均连接在调谐组件上，减少射频测试探针及射频线带来的阻抗干扰，使得整个通路阻抗匹配的操作复杂度降低，节省调节时间和验证时间，保证了检测效果的有效性；还减少了结构体积，应用方便。

技术领域

本发明涉及射频信号测试技术领域，尤其涉及一种基于无射频测试座测试射频信号的内嵌调谐电路板探针。

背景技术

近年来，随着通信技术的不断发展，无线产品的普及程度越来越高，每年全球生产的无线产品的数量也不断增加，人们的生产生活日趋便捷。无线产品(以手机为代表)主要是指通讯频率工作在300kHz～300GHz，该频段范围内的通讯信号又叫做射频信号。为了保证无线产品主板上的射频信号质量，以满足无线产品一系列最基本的无线通信需求，通常需要对主板上的射频芯片进行板级射频测试。

如图1所示，传统的板级射频测试方案，是通过设计开发阶段在无线产品的主板上增加射频测试座，并在测试时将射频测试探针的一端和无线产品主板上的射频测试座进行机械结构的扣合，射频测试探针的另一端通过射频测试线缆连接到测试仪表，最后通过测试仪表的测量结果来判定无线产品板级射频测试是否合格，无线产品的主板是良品，还是不良品来进行筛选，以保证射频信号质量。以手机为代表的的无线产品已经发展到了5G时代，无线产品主板上使用的射频信号频率范围越来越广，为了保证无线产品的通讯质量，这就需要在无线产品上市前做更完备的板级射频测试以覆盖无线产品上市后使用到的所有射频信号频率范围。当前是通过设计开发阶段在无线产品的主板上增加更多的射频测试座；2～4G时代无线产品主板上的射频测试座的数量以个位数来计算，5G时代这个数量会上升到10个以上来满足传统板级射频测试的需求；对于设计越来越复杂，性能越来越高，用户体验越来越好的无线产品，主板上的设计空间非常有限，而10个以上的射频测试座仅仅是为了满足无线产品上市前保证射频信号质量的测试需求，在上市后并没有改善无线产品板上射频信号的收发质量。反而要在无线产品设计阶段在有限的主板空间上预留10个以上板级射频测试座的安装空间，而且增加了无线产品的物料成本。所以需要开发出一种无需射频测试座的板级射频信号测试系统，以方便测试射频信号，并且节约上游设计中关于射频测试座的成本。

在节约了射频测试座设计后的基础上，发明人发现可以通过直接机械接触天线弹片上进行测试，其间需要进行一定的阻抗匹配调节，以满足测试的前提条件，从而有良好的测试效果，因为无线产品主板传统的板级测试通路，是通过阻抗均为50欧姆的射频测试座、射频探针和射频线缆构建的，整个通路阻抗连续，但是当使用射频测试探针和无线产品主板的天线弹片机械接触进行无线产品主板的射频测试时，射频芯片和天线弹片之间的天线匹配电路构件的测试通路阻抗并非在50欧姆连续，同时一块主板上会有多个天线弹片，并且同一快天线弹片上会对应不用的天线匹配电路，所以在射频测试探针之后需要设置阻抗匹配进行调谐使得整个板级通路具有可测试性，但是在研究中发现，具有调谐功能的模块在电路中的设置位置也会影响到阻抗匹配的效果，如果在射频测试探针之后加上该调谐模块，则会由于射频测试探针本身具有的50欧姆阻抗传输线而减弱阻抗匹配的效果；所以在以上所述的技术背景之下，还需要解决射频测试探针和调谐模块电路板相对位置关系如何设置的问题，以保证在免去射频测试座的测试下阻抗匹配效果不会受到影响。

发明内容

针对上述技术中存在的如：在板级射频信号测试中，还未有一种无需射频测试座的测试系统，更具体的说，在进行无射频测试座的测试过程中，还未有一种测试、调谐效果好的射频测试探针、调谐电路板结构。