[发明专利]基于待检测单元的可变参考窗单元平均恒虚警检测方法

权利要求书

1.一种基于待检测单元的可变参考窗单元平均恒虚警检测方法，其特征在于，包括：

步骤1：将待测单元左右两侧各设置一个保护单元，然后在保护单元的左右两侧分别选取一个长度为m的大参考窗；

步骤2：分别将大参考窗划分为3个子参考窗，共得到6个子参考窗，从左至右记为A、B、C、D、E、F；

步骤3：计算子参考窗内单元的平均幅度值；

步骤4：根据待检测单元的统计特性，对子参考窗进行归类；

步骤5：比较待检测单元左右两个子参考窗C和D的平均幅度值，进而判断C和D之间是否存在杂波边缘；

步骤6：依据子参考窗的归类情况及步骤5的判断结果，选择相应的参考子窗为参考单元，并计算所选参考单元的平均值得到背景杂波估计Z；

步骤7：设定恒虚警检测门限系数β，然后将雷达回波数据内杂波的参考电平Z与β相乘，若待检测单元内的雷达回波数据模值大于所述得到的乘积值，则表明待检测单元中包含雷达目标；反之待检测单元中没有雷达目标。

2.根据权利要求1所述的一种基于待检测单元的可变参考窗单元平均恒虚警检测方法，其特征在于，步骤3具体包括：

步骤3-1，将每个子参考窗进一步划分为5个参考区间，记为Q1～Q5，相邻参考区间之间重叠个单元，则每个参考区间的长度为；

步骤3-2，分别计算5个参考区间Q1～Q5内的单元幅度之和，并找到其中幅度值最大对应的参考区间Qmax参考区间的幅度值最大，Qmax为Q1～Q5之一；

步骤3-3，从子参考窗中将Qmax参考区间包含的单元剔除，计算子参考窗内其他单元的幅度平均值。

3.根据权利要求1所述的一种基于待检测单元的可变参考窗单元平均恒虚警检测方法，其特征在于，步骤4具体包括：

基于待检测单元的统计特性，对子参考窗进行分类，分成S0、S1两部分，

式中，为子参考窗的平均幅度值，x为待检测单元值，α为尺度因子，且0α1，值的选取必须保证在均匀环境下具有较小的CFAR损失，α在0.5～0.7之间取值。

4.根据权利要求1所述的一种基于待检测单元的可变参考窗单元平均恒虚警检测方法，其特征在于，步骤5具体包括：

计算的值，如果，则认为待检测单元左右两个子参考窗之间不存在杂波边缘；否则，认为待检测单元左右两个子参考窗之间存在杂波边缘；其中为经验阈值，可根据雷达阵地周围杂波情况在0.1～0.2之间取值。

5.根据权利要求1所述的一种基于待检测单元的可变参考窗单元平均恒虚警检测方法，其特征在于，步骤6具体包括：

步骤6-1，根据步骤5的比较结果，当时，选取S0中的子参考窗为参考单元，当时，选取S1中的子参考窗为参考单元；如果S0中子参考窗的个数n0＝0，或者S1中子参考窗的个数n1＝0，则选取所有子参考窗为参考单元；

步骤6-2，对于最终选取的子参考窗的平均幅度值求和，再除以选取的子参考窗个数，得到最终的参考窗平均值，作为背景杂波功率估计值。