[发明专利]用于光学测量装置的测试仪在审
申请号: | 202011187583.5 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN112741604A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 陶筠威;郭嘉祥 | 申请(专利权)人: | 倍灵科技(知识产权)有限公司 |
主分类号: | A61B5/0205 | 分类号: | A61B5/0205;A61B5/1455 |
代理公司: | 深圳宜保知识产权代理事务所(普通合伙) 44588 | 代理人: | 王琴;曹玉存 |
地址: | 中国香港新界沙田火炭山尾街3*** | 国省代码: | 香港;81 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光学 测量 装置 测试仪 | ||
1.一种用于测试测量装置的测试仪装置,所述测试仪包括:
第一光检测器组和第二光检测器组,其中每个光检测器组被配置成检测在其上接收的光并且生成指示所检测的光的信号;
光发射器组,用于输出光;和
处理器,被配置成接收并分析所述信号以识别所检测的光中第一组预定波长的存在,
其中,所述处理器还被配置成:如果确定所述第一光检测器组和所述第二光检测器组中的至少一个已经接收到包含所述第一组预定波长的光,则触发所述光发射器组开始输出第二组预定波长的光。
2.根据权利要求1所述的测试仪装置,其中所述第一光检测器组位于所述测试仪装置的第一侧上,并且所述第二光检测器组位于所述测试仪装置的第二侧上,并且所述第一侧和所述第二侧基本上彼此相对。
3.根据权利要求2所述的测试仪装置,进一步包括测试仪杆,所述测试仪杆包括所述第一侧和所述第二侧。
4.根据权利要求3所述的测试仪装置,所述测试仪杆包括光隔离器,所述光隔离器包括被配置成减少所述第一光检测器组和光检测器组之间的漏光的突出部。
5.根据权利要求4所述的测试仪装置,其中所述光隔离器是柔性的,以在接触时帮助在其自身与所述测量装置之间形成光学密封。
6.根据权利要求5所述的测试仪装置,其中所述光隔离器由泡沫材料、硅酮或热塑性弹性体中的至少一种构成。
7.根据权利要求1所述的测试仪装置,进一步包括装置安装件,所述装置安装件被配置成接收所述测量装置并且在第一位置与第二位置之间是可移动的,所述第一位置用于定位用于测试的所述测量装置,所述第二位置用于允许将所述测量装置从所述装置安装件上移除。
8.根据权利要求7所述的测试仪装置,其中所述装置安装件被偏置以将所述测量装置推向所述第一位置。
9.根据权利要求7所述的测试仪装置,其中所述装置安装件是沿着所述测试装置的底座可滑动的。
10.根据权利要求9所述的测试仪装置,其中所述装置安装件可沿着与来自所述光发射器组的光的方向成20度与60度之间的角度的方向移动。
11.根据权利要求7所述的测试仪装置,所述装置安装件包括空腔,所述空腔被配置成用于接收所述测量装置的一部分。
12.根据权利要求1所述的测试仪装置,进一步包括用于与所述测量装置电连通的连接器。
13.根据权利要求12所述的测试仪装置,其中所述测试仪装置被配置成通过所述连接器向所述测量装置提供电力和/或从所述测量装置接收信号。
14.根据权利要求13所述的测试仪装置,其中所述测试仪装置被配置成接收来自所述测量装置的信号以确定所述测量装置的测试结果。
15.根据权利要求7所述的测试仪装置,其中所述装置安装件可移动到第三位置以接收第二测量装置。
16.根据权利要求1所述的测试仪装置,其中所述第一组预定波长包括在600nm–750nm之间的第一波长和在850nm–1000nm之间的第二波长。
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