[发明专利]一种基于光谱角度的高光谱图像目标特征提取方法有效
申请号: | 202011188705.2 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN112329792B | 公开(公告)日: | 2022-12-09 |
发明(设计)人: | 孙康;陈金勇;李方方;王敏;帅通;王士成 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
主分类号: | G06V10/46 | 分类号: | G06V10/46 |
代理公司: | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人: | 王文庆 |
地址: | 050081 河北省石家庄市中山西路*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光谱 角度 图像 目标 特征 提取 方法 | ||
1.一种基于光谱角度的高光谱图像目标特征提取方法,其特征在于,用于从总波段数为L的高光谱图像中对某一目标进行目标特征提取;包括以下步骤:
步骤1,计算高光谱图像的协方差矩阵K和均值光谱协方差矩阵K为:
其中,kij为高光谱图像第i波段和第j波段的内积;
均值光谱为:
其中,xpq为高光谱图像第p行、第q列的像素光谱,N为高光谱图像的总行数,M为高光谱图像的总列数;
步骤2,读取待处理目标的目标光谱d以及针对该目标所欲提取的特征数目n,n<L;
步骤3,利用协方差矩阵K、均值光谱以及目标光谱d,计算投影均值光谱和投影目标光谱投影均值光谱和投影目标光谱中均包含m个元素,即m个特征,m的初始值为L;
步骤4,从投影均值光谱和投影目标光谱中去除第i个特征,1≤i≤m,形成新的投影均值光谱和投影目标光谱
步骤5,针对i的每一个取值,计算相应的投影均值光谱和投影目标光谱的光谱角度;
步骤6,搜索具有最大光谱角度的投影均值光谱和投影目标光谱将其作为新的投影均值光谱和投影目标光谱
步骤7,将m减1,若m>n,则重复步骤4~步骤7,否则,此时的投影目标光谱即为目标特征提取结果。
2.根据权利要求1所述的一种基于光谱角度的高光谱图像目标特征提取方法,其特征在于,所述步骤3的具体方式为:
步骤3a,计算协方差矩阵K的逆矩阵K-1;
步骤3b,计算投影均值光谱
其中,为的转置;
步骤3c,计算投影目标光谱
其中,dT为d的转置。
3.根据权利要求1所述的一种基于光谱角度的高光谱图像目标特征提取方法,其特征在于,所述步骤5中,投影均值光谱和投影目标光谱的光谱角度为:
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