[发明专利]支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备

权利要求书

1.一种支持DRAM x16颗粒的测试方法，其特征在于，在对DRAM x16颗粒进行测试之前，用一条DRAM x8颗粒内存条作为Base Module来引导启动测试，所述方法包括：

关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；

设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；

访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息；

所述关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射之前，还包括：

Double Rank Size,以使映射和计算出的内存容量是所述DRAM x16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间。

2.根据权利要求1所述的一种支持DRAM x16颗粒的测试方法，其特征在于，所述设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表包括：

初始化内存管理，进入内存页表属性设置，将Cache属性关闭；

建立内存页表；其中，所述内存页表包括内核内存页表和/或用户进程内存页表。

3.根据权利要求1所述的一种支持DRAM x16颗粒的测试方法，其特征在于，所述访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息包括；

利用BTT测试软件访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间；

向所述DRAM x16颗粒发送测试指令；

检测所述DRAM x16颗粒，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

4.一种支持DRAM x16颗粒的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

地址映射单元，用于关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；

页表建立单元，用于设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；

内存错误获取单元，用于访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息；

所述装置还包括：

扩容单元，用于Double Rank Size,以使映射和计算出的内存容量是所述DRAM x16颗粒实际容量的两倍，实现全地址测试空间。

5.根据权利要求4所述的一种支持DRAM x16颗粒的测试装置，其特征在于，所述页表建立单元包括：

Cache属性关闭模块，用于初始化内存管理，进入内存页表属性设置，将Cache属性关闭；

页表建立模块，用于建立内存页表，其中，所述内存页表包括内核内存页表和/或用户进程内存页表。

6.根据权利要求4所述的一种支持DRAM x16颗粒的测试装置，其特征在于，所述内存错误获取单元包括：

地址空间访问模块，用于利用BTT测试软件访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间；

测试指令发送模块，用于向所述DRAM x16颗粒发送测试指令；

内存错误获取模块，用于检测所述DRAM x16颗粒，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。

7.一种DRAM存储器的测试设备，其特征在于：包括用于测试控制的测试主机和用于提供DRAM测试接口的测试接口板；所述测试主机中写入执行如权利要求1-3任一所述的一种支持DRAM x16颗粒的测试方法的程序。

8.根据权利要求7所述的一种DRAM存储器的测试设备，其特征在于，所述测试设备的测试方式包括全自动测试和手动测试；其中，所述DRAM存储器速度可达到3.2GBits/sec。