[发明专利]可控源电磁数据的处理方法及装置有效
申请号: | 202011193167.6 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN112379449B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 王志刚;崔志伟;鲁瑶 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 单晓双;董骁毅 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可控 电磁 数据 处理 方法 装置 | ||
1.一种可控源电磁数据的处理方法,其特征在于,所述方法包括:
接收对目标区域进行时频电磁勘探采集的测线上的测点数据;
根据测点数据的振幅数据、相位数据确定测线上的测点的全区等效视电阻率;
根据所述测线上的测点的全区等效视电阻率确定有静态位移的测点、没有静态位移的测点及各测点的偏移距;每个测点的偏移距是指相邻测点之间的距离以第一个测点为开始点累积求和后的距离;
确定所述测线上的测点的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率;
利用没有静态位移测点的偏移距和所述前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率进行插值处理,确定测线上的测点插值后的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率;
对插值处理后的所述测线上的测点插值后的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率进行平滑处理;
根据有静态位移测点的插值平滑处理后的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率、测线上的测点的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率、有静态位移测点的平均全区等效视电阻率及没有静态位移测点的平均全区等效视电阻率确定校正后的测点的平均全区等效视电阻率;
根据校正后的测点的全区等效视电阻率确定测线上的测点对静态位移影响校正后的振幅和相位;
反演测线上的测点校正后的振幅和相位确定电阻率断面图及极化率断面图作为可控源电磁数据的处理结果。
2.如权利要求1所述的可控源电磁数据的处理方法,其特征在于,所述接收对目标区域进行时频电磁勘探采集的测线上的测点数据包括:
根据实测电磁时频电磁法射频率的分布范围和分量类型,选择时频电磁一测线,采集选择的测线的测点数据。
3.如权利要求1所述的可控源电磁数据的处理方法,其特征在于,所述根据测点数据的振幅数据、相位数据确定测线上的测点的全场区等效视电阻率包括:
确定测线上测点的频率域全区等效视电阻率;
对所述频率域全区等效视电阻率进行取对数处理确定测线上的测点的全场区等效视电阻率。
4.如权利要求1所述的可控源电磁数据的处理方法,其特征在于,所述根据所述测线上的测点的全区等效视电阻率确定有静态位移的测点、没有静态位移的测点及各测点的偏移距包括:
根据所述测线上的测点的全区等效视电阻率确定测线上的测点的全区等效视电阻率剖面图及测点的偏移距;
用克里格法对全区等效视电阻率做网格确定有静态位移的测点、没有静态位移的测点。
5.如权利要求1所述的可控源电磁数据的处理方法,其特征在于,所述利用没有静态位移测点的偏移距和所述前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率进行插值处理,确定测线上的测点插值后的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率包括:
利用没有静态位移的测点的偏移距和前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率进行三次样条插值处理,插值出有静态位移的测点的前P个高频数据的平均全区等效视电阻率,以得到测线上测点插值后的前三个高频数据的平均全区等效视电阻率。
6.如权利要求1所述的可控源电磁数据的处理方法,其特征在于,所述对插值处理后的所述测线上的测点插值后的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率进行平滑处理包括:
按预设的平滑系数,对插值处理后的所述测线上的测点插值后的前P个高频率数据进行三次样条平滑处理。
7.如权利要求1所述的可控源电磁数据的处理方法,其特征在于,所述根据有静态位移测点的插值平滑处理后的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率、测线上的测点的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率、有静态位移测点的平均全区等效视电阻率及没有静态位移测点的平均全区等效视电阻率确定校正后的测点的平均全区等效视电阻率包括:
确定有静态位移测点的插值平滑处理后的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率与插值前的测线上的测点的前P个高频率数据的平均全区等效视电阻率的差值dρa;
将有静态位移测点的平均全区等效视电阻率加上所述差值dρa,与没有静态位移测点的平均全区等效视电阻率构成校正后的测点的平均全区等效视电阻率。
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