[发明专利]能量校正方法、装置、设备、系统及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种辐射探测器的能量校正方法，所述辐射探测器包括多个探测通道，并且每个所述探测通道测得的探测数据均被独立读取，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取在对一个特定放射源发出的粒子进行探测时特定探测通道实际测得的粒子能量，其中，所述特定探测通道为多个所述探测通道中的出现粒子在其晶体条内完全沉积的探测通道，并且所述探测数据包括所述粒子能量；根据所获取的所述粒子能量以及所述粒子的真实能量，计算每个所述特定探测通道的校正系数，计算所述校正系数的步骤包括：根据粒子的真实能量与测量能量之间的理论关系来确定每个所述特定探测通道理应测得的粒子能量与校正系数之间的对应关系；根据所确定的所述对应关系以及所述粒子的真实能量来计算每个所述特定探测通道的校正系数；利用所述校正系数对每个所述特定探测通道进行能量校正，包括：在所述辐射探测器对未知放射源进行探测之后，根据所述校正系数校正与所述校正系数对应的探测通道测得的粒子能量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述粒子能量的步骤包括：采集所述辐射探测器中的每个所述探测通道在多个时间段内实际测得的探测数据；对每个所述探测通道在每个时间段内实际测得的所述探测数据进行符合判断，以筛选出粒子在至少一个所述晶体条内完全沉积的符合事件；根据筛选出的所述符合事件确定多个所述探测通道中的所述特定探测通道，并且从所述特定探测通道实际测得的探测数据中获取筛选出的所述符合事件所对应的粒子能量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所确定的所述对应关系以及所述粒子的真实能量来计算每个所述特定探测通道的校正系数的步骤包括：利用以下公式来依次计算每个特定探测通道的校正系数：

其中，E_measureij表示第i个特定探测通道在第j个时间段内实际测得的粒子能量；E表示粒子的真实能量；a_i和b_i表示第i个特定探测通道的校正参数；i为1～n之间的正整数，n表示特定探测通道的数量，j为大于或等于2*i的正整数。

4.一种辐射探测器的能量校正装置，所述辐射探测器包括多个探测通道，并且每个所述探测通道测得的探测数据均被独立读取，其特征在于，该装置包括：获取单元，其被配置为获取在对一个特定放射源发出的粒子进行探测时特定探测通道实际测得的粒子能量，其中，所述特定探测通道为多个所述探测通道中的出现粒子在其晶体条内完全沉积的探测通道，并且所述探测数据包括所述粒子能量；计算单元，其被配置为根据所获取的所述粒子能量以及所述粒子的真实能量，计算每个所述特定探测通道的校正系数，计算所述校正系数的步骤包括：根据粒子的真实能量与测量能量之间的理论关系来确定每个所述特定探测通道理应测得的粒子能量与校正系数之间的对应关系；根据所确定的所述对应关系以及所述粒子的真实能量来计算每个所述特定探测通道的校正系数；校正单元，其被配置为利用所述校正系数对每个所述特定探测通道进行能量校正，包括：在所述辐射探测器对未知放射源进行探测之后，根据所述校正系数校正与所述校正系数对应的探测通道测得的粒子能量。

5.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被执行时能够实现如权利要求1-3中任一项所述的方法。

6.一种计算机设备，其特征在于，该设备包括：存储器，其内存储有计算机程序；处理器，其被配置为在所述计算机程序被执行时执行如权利要求1-3中任一项所述的方法。

7.一种能量校正系统，其特征在于，该系统包括权利要求6所述的计算机设备以及与所述计算机设备连接的辐射探测器，其中，所述辐射探测器包括多个探测通道，并且每个探测通道测得的探测数据均被独立读取。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述辐射探测器包括CT设备、PET设备或SPECT设备。

9.根据权利要求7或8所述的系统，其特征在于，每个所述探测通道均包括相互耦合的晶体条以及用于将所述晶体条产生的光信号转换为电信号的光电转换器。