[发明专利]一种具有定位功能的安全加密芯片测试装置及测试方法

说明书

本发明属于安全加密芯片测试领域，尤其是一种具有定位功能的安全加密芯片测试装置，针对现有的在检测芯片时，需要完全依靠工人人工进行放置芯片、检测芯片和收集芯片的操作，耗时耗力且效率低下的问题，现提出如下方案，其包括固定底座，所述固定底座的顶部固定连接有安装板，所述安装板开设有第一通孔，所述安装板的一侧固定安装有夹紧组件、驱动组件和测试组件，所述测试组件位于夹紧组件的上方，本发明中，通过传送组件传送芯片本体并带动升降组件推动芯片本体，再由夹紧组件夹紧芯片本体，并通过驱动组件带动检测组件对芯片本体进行检测，并可以收集检测完成的芯片本体，结构简单，操作方便，节省了大量的人力物力。

技术领域

本发明涉及安全加密芯片测试技术领域，尤其涉及一种具有定位功能的安全加密芯片测试装置及测试方法。

背景技术

芯片测试即设计初期系统级芯片测试。Soc的基础是深亚微米工艺，因此，对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。为Soc设备所做的逐块测试规划必须实现：正确配置用于逻辑测试的ATPG工具；测试时间短；新型高速故障模型以及多种内存或小型阵列测试。对生产线而言，诊断方法不仅要找到故障，而且还要将故障节点与工作正常的节点分离开来。

在检测芯片时，需要放置芯片、检测芯片，最后收集芯片等大量且精密的步骤，现有技术中，都是通过工人一步一步的进行操作，完成对芯片的检测，因此存在以下缺陷：1、全程都是依靠工人进行人工操作，增加了工人的劳动强度，且检测速度慢，检测效率低；2、在检测时，至少需要三个人才能完成检测过程，一个人放置芯片，一个人检测芯片，一个人收集芯片，为了保证检测的速度，需要安排很多工人进行检测，增加了检测的成本；3、在放置芯片时，由于是人工操作，难免会出现漏放、错放和多放芯片的情况发生，导致下一道工序不能正常进行，需要重新放置，耗时耗力，降低了检测的效率；4、在检测芯片时，工人需要手动定位，进行检测操作，需要注意力高度集中，增加了工人的工作强度，导致部分芯片检测未完成就被收集，需要再次分拣出来，重新检测，将耗费大量的人力物力；5、在收集芯片时，可能会出现检测完成的芯片过多的情况，需要工人及时收集，否则会导致检测过程无法正常进行，还可能会出现掉落的情况，需要工人再次捡取进行收集，耗时耗力，所以我们提出了一种具有定位功能的安全加密芯片测试装置及测试方法，用以解决上述所提到的问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种具有定位功能的安全加密芯片测试装置及测试方法。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种具有定位功能的安全加密芯片测试装置及测试方法，包括固定底座，所述固定底座的顶部固定连接有安装板，所述安装板开设有第一通孔，所述安装板的一侧固定安装有夹紧组件、驱动组件和测试组件，所述测试组件位于夹紧组件的上方，且测试组件用于对安全加密芯片进行测试，夹紧组件用于对安全加密芯片夹紧和定位，所述驱动组件用于控制测试组件的升降，所述安装板的另一侧固定连接有第三固定板，所述第三固定板上转动连接有第一转轴，所述第一转轴的两端分别延伸至第三固定板的两侧并分别固定连接有第一齿轮和第二齿轮，所述第一齿轮位于第一通孔的一侧，所述固定底座靠近第二齿轮的一侧转动连接有第二转轴，所述第二转轴的外壁上分别固定套设有第二凸形圆板和第三齿轮，所述第三齿轮与第二齿轮相啮合，所述固定底座的顶部一侧开设有第三通孔，所述第三通孔位于第一通孔的一侧，所述第三通孔的下方设有由所述凸形圆板驱动的升降组件，所述升降组件用于控制安全加密芯片的升降，所述固定底座的上方设有传送组件，传送组件穿过第一通孔，传送组件用于安全加密芯片的输送，所述传送组件还用于带动所述第一齿轮。

优选地，所述测试组件包括固定安装在安装板一侧顶部的第一固定板，所述第一固定板的内部滑动连接有第一支撑杆，所述第一支撑杆的顶部和底部分别延伸至第一固定板上方和下方，所述第一支撑杆的底部固定安装有检测头，所述第一支撑杆的顶部固定连接有检测压板，所述第一支撑杆的外壁上套设有第一弹簧，所述第一弹簧位于检测压板和第一固定板之间。