[发明专利]一种芯片加工用锡膏检测装置在审
申请号: | 202011195304.X | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN112331575A | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 郝建兵 | 申请(专利权)人: | 郝建兵 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 717300 陕西省延安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 工用 检测 装置 | ||
1.一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:包括,
基台组件(100),包括检测台(101),所述检测台(101)顶面设有操作面板(102),且所述检测台(101)内腔开设有检测腔(103),所述检测腔(103)内腔底部设有承载台(104),且所述检测腔(103)表面设有遮光带(105);
承载组件(200),所述填充组件(300)设于检测腔(103)内腔,且所述填充组件(300)包括弧顶盖(201),所述弧顶盖(201)下方设有与其活动抵接的组接底罩(202),所述组接底罩(202)由多个弧形支罩构成,且所述组接底罩(202)与弧顶盖(201)组成中空球形结构;
填充组件(300),所述填充组件(300)设于组接底罩(202)上。
2.根据权利要求1所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述弧顶盖(201)上固定插接有定位杆(203),所述定位杆(203)外壁活动套设有活动环(204),所述活动环(204)通过与弧形支罩数量适配且与其铰接的联动杆(205)与组接底罩(202)传动连接。
3.根据权利要求2所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述定位杆(203)底端固定连接有支架(206),所述支架(206)底端固定连接基板(207),所述基板(207)呈弧形结构,且所述基板(207)上活动嵌设有钢珠(208),所述组接底罩(202)底端与基板(207)活动连接。
4.根据权利要求3所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述填充组件(300)包括与一端与基板(207)活动连接的抹平板(301),所述抹平板(301)一端与组接底罩(202)端部共轴设置,且所述抹平板(301)另一端与导向板(302)活动连接,所述抹平板(301)与导向板(302)连接端设有驱动杆(303),所述驱动杆(303)与组接底罩(202)侧壁活动连接,所述导向板(302)上开设有滑槽,所述抹平板(301)端部设有一体成型的滑块。
5.根据权利要求4所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述导向板(302)一端与水平设置的固定杆(304)一端连接,所述固定杆(304)另一端与支架(206)固定连接,所述组接底罩(202)的弧形支罩表面等距设有出料嘴(305),所述出料嘴(305)与弧形支罩内腔的容纳腔(306)连接,所述容纳腔(306)通过导料管(307)与料筒(308)连接,所述料筒(308)套设于定位杆(203)上,且所述料筒(308)内腔设有与活动环(204)固定连接的压料块。
6.根据权利要求5所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述支架(206)侧壁设有光源发射器一(2061),所述组接底罩(202)的对应的弧形支罩表面开设有透光口(2062)。
7.根据权利要求5所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述定位杆(203)顶端与移动组件(400)连接,所述移动组件(400)包括与定位杆(203)顶端连接的安装块(401),所述安装块(401)活动设于纵向导轨(402)上,所述纵向导轨(402)两端活动设于横向导轨(403)上,所述安装块(401)顶端设有驱动电机(404),所述纵向导轨(402)和横向导轨(403)均为电性导轨。
8.根据权利要求7所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述移动组件(400)左侧设有光源检测组件(500),所述光源检测组件(500)包括开设于检测台(101)内腔的安装腔(501),所述安装腔(501)内腔顶部设有光源发射器二(502),所述光源发射器二(502)下方设有反光板(503),所述反光板(503)设于遮光箱(504)内腔,所述遮光箱(504)通过滑板(505)与安装腔(501)内壁滑动连接,且所述遮光箱(504)底部设有凸轮(506),所述凸轮(506)通过转动机构(507)驱动。
9.根据权利要求8所述的一种芯片加工用锡膏检测装置,其特征在于:所述反光板(503)为直角三角形结构,所述遮光箱(504)顶面和右侧壁均开设有透光孔,且所述遮光箱(504)右端贯穿伸入至检测腔(103)内。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于郝建兵,未经郝建兵许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011195304.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造