[发明专利]一种芯片检测装置

权利要求书

1.一种芯片检测装置，其特征在于：包括升降台(1)、检测装置(2)、运输装置(3)、转移装置(4)和控温装置(5)，所述升降台(1)包括顶板(11)、底板(12)和第一液压杆(13)，所述第一液压杆(13)的输出端固定连接在顶板(11)的底部，所述第一液压杆(13)的另一端固定设置在底板(12)的表面，所述第一液压杆(13)设有四个，四个所述第一液压杆(13)均匀设置在顶板(11)的四周，所述检测装置(2)设置在底板(12)上且位于底板(12)的中心处，所述运输装置(3)设置在底板(12)上，所述运输装置(3)设置在检测装置(2)其中的两侧，所述转移装置(4)设置在顶板(11)的底部且转移装置(4)设置在检测装置(2)的上方，所述控温装置(5)设置在检测装置(2)的另外两侧。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述检测装置(2)包括检测台(21)、检测座(22)、第一弹簧(23)、侧板(24)、第一电机(25)、转动杆(26)、检测组件(27)和滑竿(28)，所述检测台(21)固定连接在底板(12)上，所述检测台(21)内开设有槽，所述检测座(22)设置在检测台(21)顶部开设的槽内且与检测台(21)活动连接，所述第一弹簧(23)设置在检测台(21)内，所述第一弹簧(23)的两端分别固定连接在检测座(22)的底部和检测台(21)的表面，所述侧板(24)与检测台(21)活动连接，所述侧板(24)设有两个，两个所述侧板(24)对称设置在检测台(21)的两侧且与检测座(22)活动连接，所述第一电机(25)固定设置在检测台(21)的底部，所述转动杆(26)的一端转动连接在第一电机(25)输出端的一侧，所述转动杆(26)的另一端转动连接在检测组件(27)上，所述转动杆(26)设有两个，两个所述转动杆(26)对称设置在第一电机(25)的输出端的两侧，所述滑竿(28)固定设置在底板(12)上，且位于检测台(21)的下方，所述检测组件(27)与滑竿(28)活动连接。

3.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述检测组件(27)设有两个，两个检测组件(27)对称设置在检测台(21)的两侧且与侧板(24)同侧，两个检测组件(27)均包括活动座(271)、圆筒(272)、探测针(273)、第二弹簧(274)、第一螺纹杆(275)、转轴(276)和转盘(277)，所述活动座(271)的底部与滑竿(28)活动连接，圆筒(272)设置在活动座(271)的底部侧端开设的槽内且与活动座(271)活动连接，所述圆筒(272)设置在活动座(271)内的一端开设有螺纹孔，所述探测针(273)设在圆筒(272)的另一端内且与圆筒(272)活动连接，所述第二弹簧(274)设置在圆筒(272)内，所述第二弹簧(274)的两端分别固定连接在圆筒(272)内和探测针(273)的尾部，所述圆筒(272)、探测针(273)和第二弹簧(274)设有若干个，若干个所述圆筒(272)、若干个所述探测针(273)和若干个所述第二弹簧(274)等距设在活动座(271)上，所述第一螺纹杆(275)的一端穿过的若干个所述圆筒(272)且与圆筒(272)螺纹连接，所述转轴(276)活动设置在活动座(271)的顶端，所述转轴(276)的一端固定连接有转盘(277)，所述转轴(276)的另一端与第一螺纹杆(275)暴露在外的一端啮合连接。

4.根据权利要求3所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述转轴(276)与第一螺纹杆(275)啮合的一端齿径小于第一螺纹杆(275)的齿径。

5.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于：所述运输装置(3)包括芯片传输台(31)和回收箱(32)，所述芯片传输台(31)固定设置在检测装置(2)的一侧，所述芯片传输台(31)设有两个，两个所述芯片传输台(31)对称设置在检测装置(2)的两侧，所述回收箱(32)设置在底板(12)上且靠近芯片传输台(31)。