[发明专利]光学测定方法和处理装置在审

专利信息
申请号: 202011196495.1 申请日: 2020-10-30
公开(公告)号: CN112747902A 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 三岛俊介;大岛浩正 申请(专利权)人: 大塚电子株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J1/42
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 测定 方法 处理 装置
【权利要求书】:

1.一种光学测定方法,包括以下步骤:

使已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯点亮,并且获取从分光光度计输出的第一检测结果,所述分光光度计配置在与所述第一标准灯相距赋予了光谱辐射照度的值的第一距离的位置处;

使已被赋予针对至少一部分波长范围与所述第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯点亮,并且获取从所述分光光度计输出的第二检测结果,所述分光光度计配置在与所述第二标准灯相距所述第一距离的位置处;

基于所述第一检测结果和已赋予给所述第一标准灯的光谱辐射照度的值,来计算第一校准系数;

基于所述第二检测结果和已赋予给所述第二标准灯的光谱辐射照度的值,来计算第二校准系数;

基于所述第一校准系数和所述第二校准系数,来计算关于所述第一波长范围与所述第二波长范围重复的波长范围的波长的校准系数的校正值;

至少基于所述第一校准系数和所述校正值来决定第三校准系数;

使第三标准灯点亮,并且获取从配置在与所述第三标准灯相距规定距离的位置处的所述分光光度计输出的第三检测结果;以及

基于所述第三检测结果和所述第三校准系数,来对所述第三标准灯赋予测光量的值。

2.根据权利要求1所述的光学测定方法,其中,

决定所述第三校准系数的步骤包括以下步骤:

在所述第一波长范围与所述第二波长范围重复的波长范围中决定要决定所述校正值的校正对象区间;以及

针对所述校正对象区间内包含的各波长决定所述校正值。

3.根据权利要求2所述的光学测定方法,其中,决定所述校正对象区间的步骤包括以下步骤:

搜索所述第一校准系数的值与所述第二校准系数的值之间的偏差量最小的区间。

4.根据权利要求2所述的光学测定方法,其中,针对所述校正对象区间内包含的各波长决定所述校正值的步骤包括以下步骤:

对所述校正对象区间内包含的各波长的所述第一校准系数的值和所述第二校准系数的值赋予与各波长对应的各个权重,由此决定对应的所述校正值。

5.根据权利要求1~4中的任一项所述的光学测定方法,其中,还包括以下步骤:

获取由所述第三标准灯产生的第一辐射照度;

获取由任意的样品产生的第二辐射照度;以及

基于所述第一辐射照度与所述第二辐射照度的比率以及已赋予给所述第三标准灯的测光量的值,来获取所述样品的测光量。

6.根据权利要求5所述的光学测定方法,其中,

所述第一辐射照度是使来自所述第三标准灯的光入射到积分器后在所述积分器的内壁产生的照度,

所述第二辐射照度是使来自所述样品的光入射到所述积分器后在所述积分器的内壁产生的照度。

7.根据权利要求1~4中的任一项所述的光学测定方法,其中,

所述第一波长范围包括紫外区域,

所述第二波长范围包括可见区域。

8.一种处理装置,具备:

第一校准系数计算单元,其基于与已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯有关的第一检测结果、以及已赋予给所述第一标准灯的光谱辐射照度的值来计算第一校准系数,其中,所述第一检测结果是使所述第一标准灯点亮并且使用配置在与所述第一标准灯相距赋予了光谱辐射照度的值的第一距离的位置处的分光光度计获取到的结果;

第二校准系数计算单元,其基于与已被赋予针对至少一部分波长范围同所述第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯有关的第二检测结果、以及已赋予给所述第二标准灯的光谱辐射照度的值来计算第二校准系数,其中,所述第二检测结果是使所述第二标准灯点亮并且使用配置在与所述第二标准灯相距所述第一距离的位置处的所述分光光度计获取到的结果;

校正值计算单元,其基于所述第一校准系数和所述第二校准系数,来计算同所述第一波长范围与所述第二波长范围重复的波长范围的波长有关的校准系数的校正值;

第三校准系数决定单元,其至少基于所述第一校准系数和所述校正值来决定第三校准系数;以及

测光量决定单元,其基于与第三标准灯有关的第三检测结果和所述第三校准系数,来决定赋予给所述第三标准灯的测光量的值,其中,所述第三检测结果是使用配置在与所述第三标准灯相距规定距离的位置处的所述分光光度计获取到的结果。

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