[发明专利]一种标准层选取方法和装置

权利要求书

1.一种标准层选取方法，其特征在于，包括：

在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

设定相关系数的截止值；

获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，包括：

在研究区范围内的所有井中进行筛选，将在目的层段内具有良好的井眼条件、相对全面的测井系列、系统的取芯资料、垂向地层沉积连续以及生产测试资料的井作为标准井。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，选取标准井的标准层，包括：

在标准井的全部钻井地层中进行筛选，将区域上稳定分布且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层作为标准井的标准层。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，包括：

获取标准井标准层的顶、底数值，确定标准层标准井的窗长厚度D；

获取标准井的测井曲线采样间隔△t，结合窗长厚度D，确定样点个数为D/△t+1。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数，包括：

将标准井标准层的窗长厚度的一半作为非标准井的窗长厚度D/2；

根据非标准井的窗长厚度D/2和标准井标准层的测井曲线采样间隔△t，确定非标准井的样点个数D/(2·△t)+1。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数，包括：

分别将标准井标准层的样点个数D/△t+1和非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)+1减一；

计算减一后标准井标准层的样点个数D/△t和减一后非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)的最小公倍数Q。