[发明专利]用于天线阵列的相位差测量方法和系统及相位补偿方法

权利要求书

1.一种用于天线阵列的相位差测量方法，所述天线阵列包括至少两个阵元，所述方法包括：

根据所述天线阵列中各个阵元的三维空间近场相位数据，依次测量获得所述天线阵列中各个阵元的三维空间远场相位数据集；

根据所述天线阵列的远场角度范围确定三维立体角空间，从所述阵元的三维空间远场相位数据集中获取所述天线阵列中各个阵元对应所述三维立体角空间的三维空间远场相位数据；以及以所述天线阵列中的第一阵元的所述对应所述三维立体角空间的三维空间远场相位数据为基准，获得其他阵元相对于所述第一阵元的相位差。

2.根据权利要求1所述的用于天线阵列的相位差测量方法，其特征在于，所述测量获得所述天线阵列中各个阵元的三维空间远场相位数据集的步骤包括步骤：测量所述天线阵列中各个阵元的三维空间近场相位数据，并将所述三维空间近场相位数据转换为所述三维空间远场相位数据。

3.根据权利要求2所述的用于天线阵列的相位差测量方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：设置近场测量频段为实际工作频段。

4.根据权利要求2所述的用于天线阵列的相位差测量方法，其特征在于，在所述测量所述天线阵列中各个阵元的三维空间近场相位数据之前，还包括将所述各个阵元分别设置在近场暗室的中心。

5.根据权利要求4所述的用于天线阵列的相位差测量方法，其特征在于，所述将所述各个阵元设置在近场暗室的中心为借助带有刻度条的结构件将所述阵元设置在所述近场暗室的中心。

6.根据权利要求1所述的用于天线阵列的相位差测量方法，其特征在于，所述天线阵列的远场角度范围包括方位角和俯仰角。

7.根据权利要求1所述的用于天线阵列的相位差测量方法，其特征在于，所述三维空间远场相位数据为矩阵形式，包括所述阵元相位值以及方位角和俯仰角中的至少一个。

8.一种用于天线阵列的相位差测量系统，包括近场暗室、近场测量设备以及天线阵列，其特征在于，所述天线阵列包括至少两个阵元，所述近场测量设备用于根据所述天线阵列中各个阵元的三维空间近场相位数据，获得所述天线阵列的各个阵元的三维空间远场相位数据集；

所述系统还包括获取单元，用于根据所述天线阵列的远场角度范围确定三维立体角空间，并从所述阵元的三维空间远场相位数据集中获取所述天线阵列中各个阵元对应所述三维立体角空间的三维空间远场相位数据；

以及计算单元，用于以所述天线阵列中的第一阵元的所述对应所述三维立体角空间的三维空间远场相位数据为基准，获得其他阵元相对于所述第一阵元的相位差。

9.根据权利要求8所述的用于天线阵列的相位差测量系统，其特征在于，所述近场测量设备用于测量所述阵元的三维空间近场相位数据并将所述三维空间近场相位数据转换为三维空间远场相位数据。

10.根据权利要求8所述的用于天线阵列的相位差测量系统，其特征在于，所述近场暗室为多探头球形近场测量暗室。

11.根据权利要求8所述的用于天线阵列的相位差测量系统，其特征在于，还包括带有刻度的结构件，借助所述带有刻度的结构件将所述阵元设置在所述近场暗室的中心。

12.根据权利要求11所述的用于天线阵列的相位差测量系统，其特征在于，还包括支撑结构，所述支撑结构用于固定所述天线阵列和所述结构件。

13.根据权利要求8所述的用于天线阵列的相位差测量系统，其特征在于，所述远场相位数据为矩阵形式，包括所述阵元相位值以及方位角和俯仰角中的至少一个。

14.一种用于天线阵列的相位补偿方法，所述方法包括权利要求1至7任意一项所述的用于天线阵列的相位差测量方法，还包括步骤：

根据所获得的相位差，对所述天线阵列中的各阵元进行相位补偿。