[发明专利]一种芯片封装方法在审
申请号: | 202011200811.8 | 申请日: | 2020-11-02 |
公开(公告)号: | CN112309875A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 索思亮;陶文伟;曹扬;陈立明;匡晓云;黄开天 | 申请(专利权)人: | 南方电网科学研究院有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/48;H01L25/065 |
代理公司: | 广州海石专利代理事务所(普通合伙) 44606 | 代理人: | 邵穗娟 |
地址: | 510000 广东省广州市萝岗区科*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 封装 方法 | ||
本发明公开了一种芯片封装方法,包括:1)准备一用于承载芯片的基板,在该基板的上表面形成上线路层、并在上线路层表面形成上焊罩层,在该基板的下表面形成下线路层、并在下线路层的表面形成下焊罩层;2)在上焊罩层的表面设置引线焊盘A和引线焊盘B;3)采用粘晶层覆盖于上焊罩层上,并采用芯片A压在粘晶层上形成芯片A与上焊罩层的连接;4)将芯片A上的焊盘分别与基板上表面的引线焊盘A通过金属导线连接;5)采用粘性薄膜层覆盖于芯片A上,并采用芯片B压在粘性薄膜层上形成芯片B与芯片A的连接;6)将芯片B上的焊盘分别与基板上表面的引线焊盘B通过金属导线连接;该芯片封装方法采用堆叠式进行封装,减少基板占用空间。
技术领域
本发明涉及一种芯片封装方法。
背景技术
封装(Package)对于芯片来说是必须的,也是至关重要的。封装也可以说是指安装半导体集成电路芯片用的外壳,它不仅起着保护芯片和增强导热性能的作用,而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁和规格通用功能的作用。封装的主要作用有:
(1)物理保护。因为芯片必须与外界隔离,以防止空气中的杂质对芯片电路的腐蚀而造成电气性能下降,保护芯片表面以及连接引线等,使相当柔嫩的芯片在电气或热物理等方面免受外力损害及外部环境的影响;同时通过封装使芯片的热膨胀系数与框架或基板的热膨胀系数相匹配,这样就能缓解由于热等外部环境的变化而产生的应力以及由于芯片发热而产生的应力,从而可防止芯片损坏失效。基于散热的要求,封装越薄越好,当芯片功耗大于2W时,在封装上需要增加散热片或热沉片,以增强其散热冷却功能;5~1OW时必须采取强制冷却手段。另一方面,封装后的芯片也更便于安装和运输。
(2)电气连接。封装的尺寸调整(间距变换)功能可由芯片的极细引线间距,调整到实装基板的尺寸间距,从而便于实装操作。例如从以亚微米(目前已达到0.1 3μm以下)为特征尺寸的芯片,到以10μm为单位的芯片焊点,再到以100μm为单位的外部引脚,最后剑以毫米为单位的印刷电路板,都是通过封装米实现的。封装在这里起着由小到大、由难到易、由复杂到简单的变换作用,从而可使操作费用及材料费用降低,而且能提高工作效率和可靠性,特别是通过实现布线长度和阻抗配比尽可能地降低连接电阻,寄生电容和电感来保证正确的信号波形和传输速度。
(3)标准规格化。规格通用功能是指封装的尺寸、形状、引脚数量、间距、长度等有标准规格,既便于加工,又便于与印刷电路板相配合,相关的生产线及生产设备都具有通用性。这对于封装用户、电路板厂家、半导体厂家都很方便,而且便于标准化。相比之下,裸芯片实装及倒装目前尚不具备这方面的优势。由于组装技术的好坏还直接影响到芯片自身性能的发挥和与之连接的印刷电路板(PCB)的设计和制造,对于很多集成电路产品而言,组装技术都是非常关键的一环。
现有针对于多个芯片集成于一基板上的封装方式多是采用各个芯片进行平行封装,而这种封装方式会导致基板的占用空间变大,影响其应用。
发明内容
针对现有技术中的不足,本发明的目的是提供一种采用堆叠式进行封装,减少基板占用空间的芯片封装方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种芯片封装方法,包括:
1)准备一用于承载芯片的基板,在该基板的上表面形成上线路层、并在上线路层表面形成上焊罩层,在该基板的下表面形成下线路层、并在下线路层的表面形成下焊罩层;
2)在上焊罩层的表面设置引线焊盘A和引线焊盘B;
3)采用粘晶层覆盖于上焊罩层上,并采用芯片A压在粘晶层上形成芯片A与上焊罩层的连接;
4)将芯片A上的焊盘分别与基板上表面的引线焊盘A通过金属导线连接;
5)采用粘性薄膜层覆盖于芯片A上,并采用芯片B压在粘性薄膜层上形成芯片B与芯片A的连接;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造